[发明专利]一种星载微波辐射计的偏差校正方法

权利要求书

1.一种星载微波辐射计的偏差校正方法，其特征在于，该方法具体步骤如下：

步骤1)根据在轨运行的星载微波辐射计下传的遥测数据包，利用通信分析，主备分析，电源分析和温度分析，判断仪器是否工作在正常状态；

步骤2)利用在轨运行的星载微波辐射计下传到地面数据接收站的遥感数据包，判断仪器各通道增益和信号输出电压值范围，参考仪器设计方提供的参考范围判断阈值,确定观测的数据是否有效；

步骤3)利用ECMWF/WRF仿真生成与星载微波辐射计时间和地理匹配的廓线数据，利用ARTS仿真模式进行亮度数据仿真验证，获得亮温值；

步骤4)根据微波辐射计MWHS在轨观测数据，测得亮温值；根据像元的辐射混合和极化混合的影响情况，获得精确的亮温值；

步骤5)然后，再结合国外同类型的微波辐射计，即AMSU-/B获得的代表国际先进水平的亮温值；

步骤6)在轨定标精度分析，通过上述步骤3)、4)和5)测得的亮温值，最终确定微波辐射机计仪器在轨定标精度，得到定量化结果。

2.根据权利要求1所述的星载微波辐射计的偏差校正方法，其特征在于，所述的步骤1)进一步包含：

步骤a)在常温常压下，测出中心频点的频率，对该频率进行测试，进而确认该频率值；通过采用带宽修正方法，对带宽修正进行分析并计算微波辐射计带宽修正系数和在地面测得亮温值；

步骤b)在热真空环境下，分别对在不同的工作温度和不同的变温源情况下，确定微波辐射计的系统非线性参数并分别加权，然后对非线性参数进行特性分析，并测得热真空环境下的亮温值；

步骤c)根据步骤a)和步骤b)测得的中心频点频率，带宽修正系数以及非线性参数这些地面和热真空环境下的分析结果，对在地面测得的变温源亮温值和热真空环境下定标测得的亮温值进行比对，获得一个精确度较高的亮温值，从而进行热真空环境定标精度分析；

步骤d)根据微波辐射计备份件天线方向图测试结果，进行天线特性测试分析和修正,为扫描线间及像元间辐射混合和极化混合计算提供天线修正系数；

步骤e)根据测得的射频及中频特性，利用微波辐射计备份件测试射频及中频响应。

3.根据权利要求2所述的星载微波辐射计的偏差校正方法，其特征在于，在热真空环境下，工作温度在2-25度范围内。

4.根据权利要求2所述的星载微波辐射计的偏差校正方法，其特征在于，所述的非线性参数在进行特性分析的过程中，在工作温度为2-25度范围内，采用变温源95-335K，间隔15K，逐点进行计算，得到每个温度点的非线性参数u，即非线性参数中的一个参数，并对所测结果进行加权平均；另外，对变温源95-335K间所有测试结果进行非线性拟合，将二者得到的结果再进行加权平均，确定仪器在不同工作温度下的非线性参数u。

5.根据权利要求2所述的星载微波辐射计的偏差校正方法，其特征在于，所述的天线特性测试分析和修正，采用一个扫描周期内所有的扫描像元与3个冷空观测像元和3个热空观测像元的旁瓣、空间溢出的修正方法，交叉极化订正算法研究，以及天线订正矩阵；进而研究天线指向对于测量结果的影响，以及在轨辐射偏差修正模型。

6.根据权利要求1所述的星载微波辐射计的偏差校正方法，其特征在于，在轨定标精度分析，采用ECMWF，WRF，ARTS三种模式结合的手段，利用全球海洋和陆地以及岛屿上空廓线仿真得到亮温值。