[发明专利]TO光电探测器同轴度检测装置及方法在审
申请号: | 201510659425.8 | 申请日: | 2015-10-14 |
公开(公告)号: | CN105157623A | 公开(公告)日: | 2015-12-16 |
发明(设计)人: | 苏杰;彭秀华;卜晖;姚治惠;肖业君;刘蘋;文越 | 申请(专利权)人: | 重庆鹰谷光电有限公司 |
主分类号: | G01B11/27 | 分类号: | G01B11/27 |
代理公司: | 重庆辉腾律师事务所 50215 | 代理人: | 侯懋琪;侯春乐 |
地址: | 400060 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | to 光电 探测器 同轴 检测 装置 方法 | ||
1.一种TO光电探测器同轴度检测装置,其特征在于:所述TO光电探测器同轴度检测装置由二维位移平台(1)、旋转传动装置(2)、安装座(3)、CCD成像仪(4)和显示器(5)组成;
所述旋转传动装置(2)的底座与二维位移平台(1)的上端面连接,旋转传动装置(2)的传动轴与安装座(3)连接,安装座(3)位于旋转传动装置(2)的上方;所述传动轴的旋转轴与二维位移平台(1)的上端面垂直,安装座(3)能在传动轴的带动下旋转;所述安装座(3)用于夹持待检测的TO光电探测器,安装座(3)上对应TO光电探测器物理中心的部位与所述旋转轴重合;所述CCD成像仪(4)设置于安装座(3)上方;所述显示器(5)与CCD成像仪(4)电气连接;显示器(5)用于显示CCD成像仪(4)拍摄到的图像;所述图像上附加有一标记,所述标记在CCD成像仪(4)的成像区中的位置相对固定。
2.根据权利要求1所述的TO光电探测器同轴度检测装置,其特征在于:所述标记以物理方式形成在CCD成像仪(4)的镜头光窗上。
3.根据权利要求1所述的TO光电探测器同轴度检测装置,其特征在于:所述标记以物理方式形成在显示器(5)的屏幕上。
4.根据权利要求1所述的TO光电探测器同轴度检测装置,其特征在于:所述标记由软件生成,与图像一起显示在显示器(5)的屏幕上。
5.根据权利要求1、2、3或4所述的TO光电探测器同轴度检测装置,其特征在于:所述标记的形状为一十字线。
6.根据权利要求1、2、3或4所述的TO光电探测器同轴度检测装置,其特征在于:所述标记为一圆圈和一十字线重叠而成的标靶,所述圆圈的圆心与十字线的中心重合。
7.一种TO光电探测器同轴度检测方法,所涉及的硬件包括待检测的TO光电探测器和TO光电探测器同轴度检测装置;
所述TO光电探测器同轴度检测装置由二维位移平台(1)、旋转传动装置(2)、安装座(3)、CCD成像仪(4)和显示器(5)组成;所述旋转传动装置(2)的底座与二维位移平台(1)的上端面连接,旋转传动装置(2)的传动轴与安装座(3)连接,安装座(3)位于旋转传动装置(2)的上方;所述传动轴的旋转轴与二维位移平台(1)的上端面垂直,安装座(3)能在传动轴的带动下旋转;所述安装座(3)用于夹持待检测的TO光电探测器,安装座(3)上对应TO光电探测器物理中心的部位与所述旋转轴重合;所述CCD成像仪(4)设置于安装座(3)上方;所述显示器(5)与CCD成像仪(4)电气连接;显示器(5)用于显示CCD成像仪(4)拍摄到的图像;所述图像上附加有一标记,所述标记在CCD成像仪(4)的成像区中的位置相对固定;
所述TO光电探测器包括壳体(6)和安装在壳体(6)上的芯片(7);所述芯片(7)的光敏面由多个象限组成;所述光敏面的中心记为中心点;
其特征在于:按如下方法对TO光电探测器的同轴度进行检测:
1)将待检测的TO光电探测器设置在安装座(3)上,TO光电探测器的光敏面朝上;
2)通过二维位移平台(1)对旋转传动装置(2)的水平位置进行调节,使图像上显示出的中心点与所述标记重合;
3)通过旋转传动装置(2)传动TO光电探测器旋转;TO光电探测器旋转的过程中,观察中心点的轨迹,若由中心点的轨迹所形成的圆的半径越小,说明同轴度越好。
8.根据权利要求7所述的TO光电探测器同轴度检测方法,其特征在于:所述标记的设置方式在如下三种方式中择一采用:
方式一:以物理方式形成在CCD成像仪(4)的镜头光窗上;方式二:所述标记以物理方式形成在显示器(5)的屏幕上;方式三:所述标记由软件生成,与图像一起显示在显示器(5)的屏幕上。
9.根据权利要求8所述的TO光电探测器同轴度检测方法,其特征在于:所述标记的形状在如下两种图案中择一采用:
图案一:所述标记为为一十字线;
图案二:所述标记为一圆圈和一十字线重叠而成的标靶,所述圆圈的圆心与十字线的中心重合。
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