[发明专利]一种姿态测量系统的精度校准方法有效
申请号: | 201510665021.X | 申请日: | 2015-10-13 |
公开(公告)号: | CN105352487B | 公开(公告)日: | 2018-06-15 |
发明(设计)人: | 涂睿;沈雪峰;赵文龙;戴文鼎;岳强 | 申请(专利权)人: | 上海华测导航技术股份有限公司 |
主分类号: | G01C17/38 | 分类号: | G01C17/38 |
代理公司: | 上海愉腾专利代理事务所(普通合伙) 31306 | 代理人: | 唐海波 |
地址: | 201702 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 姿态测量系统 电子罗盘 精度校准 加速度计数据 加速度计 拟合模型 椭球参数 原始数据 校准 椭球 刻度系数 校准结果 交角 解算 零偏 耗时 | ||
1.一种姿态测量系统的精度校准方法,其特征在于,所述姿态测量系统的精度校准方法包括如下步骤:
通过椭球拟合模型对姿态测量系统的加速度计的零偏、刻度系数与轴间不正交角进行校准;
所述通过椭球拟合模型对姿态测量系统的加速度计的零偏、刻度系数与轴间不正交角进行校准步骤包括以下步骤:
设定拟合椭球参数向量,标记为α=[a b c d e f k l m n]T;
设定校准过程迭代次数为r,将加速度采集的第一个值[AX0、AY0、AZ0]T拓展为10维列向量D1,并计算矩阵S1,其中,D1标记为S1=D1TD1;
若加速度计三轴数据的采集次数未达到r次,则用新采集的加速度计数据DK对矩阵S进行更新,其中,Sk=Sk-1+DkTDk;
计算出更新的矩阵S后,同时引入椭球限制矩阵C并将矩阵S分块,其中,
C2=03×7,C3=07×3,C4=07×7
将矩阵S分块:
Dk=[D1 D2]
D1=[Ax12 Ay12 Az12]
D2=[Ax1Ay1 Ay1Az1 Ax1Az1 Ax1 Ay1 Az1 1]
通过以下公式求得椭球拟合向量:
C1-1(S1-S2S4-1S2T)α1=λα1
α2=-S4-1S2Tα1;
计算出α1后,通过上述公式计算出α2,则椭球拟合向量的所有参数全部被计算出,其中,α=[α1 α2]=[a b c d e f k l m n]T;
再根据实际的物理对应关系,三轴的刻度系数kx,ky,kz、轴间不正交角δxy,δyz,δxz及残余零偏bx,by,bz可以通过以下公式计算得出:
采集加速度计在一段时间内的三轴数据,其中,三轴数据标记为[AX0、AY0、AZ0]T,零偏标记为B=[AX0、AY0、AZ0]T–[0 0 g]T;
当采集到新的加速度计数据后,可以用椭球参数对新采集到的数据进行修正;
利用计算出的椭球参数对加速度计原始数据进行补偿;
通过椭球拟合模型对姿态测量系统的电子罗盘进行校准;
所述通过椭球拟合模型对姿态测量系统的电子罗盘进行校准包括以下步骤:
设定拟合椭球参数向量,标记为α=[a b c d e f k l m n]T;
采集电子罗盘在一段时间内的三轴数据,并对采集的数据进行运算防溢处理,其中,三轴数据标记为[HX0 HY0 HZ0]T;
设定校准过程迭代次数为r,将电子罗盘采集的第一个值[HX1 HY1HZ1]T拓展为10维列向量D1,并计算矩阵S1,其中,D1标记为S1=D1TD1;
若电子罗盘三轴数据的采集次数未达到r次,则用新采集的电子罗盘数据DK对矩阵S进行更新,其中,Sk=Sk-1+DkTDk;
计算出更新的矩阵S后,同时引入椭球限制矩阵C并将矩阵S分块,其中,
C2=03×7,C3=07×3,C4=07×7
将矩阵S分块:
Dk=[D1 D2]
D2=[Hx1Hy1 Hx1Hz1 Hy1Hz1 Hx1 Hy1 Hz1 1]
通过以下公式求得椭球拟合向量:
C1-1(S1-S2S4-1S2T)α1=λα1
α2=-S4-1S2Tα1;
计算出α1后,通过上述公式计算出α2,则椭球拟合向量的所有参数全部被计算出,其中,α=[α1 α2]=[a b c d e f k l m n]T;
再根据实际的物理对应关系,三轴的刻度系数kx,ky,kz、轴间不正交角δxy,δyz,δxz及残余零偏bx,by,bz可以通过以下公式计算得出:
利用计算出的椭球参数对电子罗盘原始数据进行补偿;
根据补偿后的加速度计数据与电子罗盘数据对姿态进行解算。
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