[发明专利]用于集成电路布局生成的方法、器件和计算机程序产品有效

专利信息
申请号: 201510666871.1 申请日: 2015-10-15
公开(公告)号: CN105631087B 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 何嘉铭;阿达里·罗摩·巴德拉·拉奥;徐孟楷;张洸鋐;苏哿颖;陈文豪;李宪信 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 用于 集成电路 布局 生成 方法 器件 计算机 程序 产品
【权利要求书】:

1.一种用于生成集成电路布局的方法,所述方法至少部分地通过处理器实施,所述方法包括:

实施气隙插入工艺,所述气隙插入工艺包括:

按顺序排序集成电路的布局的多个网络;以及

根据所述多个网络的排序顺序在邻近所述多个网络处插入气隙图案,其中,基于以下公式排序所述多个网络:

Cost4(i)=Cap_Cost(i)/长度(i),

其中,

i表示所述多个网络中的第i个网络,

长度(i)是所述第i个网络的长度,

N是所述多个网络中的且邻近所述第i个网络的网络的数量,

j表示邻近所述第i个网络的N个网络中的第j个网络,

投影长度(j)是所述第i个网络和所述第j个网络在所述投影长度上方沿着彼此延伸的投影长度,

C气隙是所述第i个网络和所述第j个网络之间的单元耦合电容,

P是邻近所述第i个网络可插入的虚拟网络的数量,

k表示邻近所述第i个网络可插入的P个虚拟网络中的第k个虚拟网络,

虚拟长度(k)是所述第k个虚拟网络的长度,以及

C虚拟是所述第k个虚拟网络的单元耦合电容;以及

生成所述集成电路的修改布局,所述修改布局包括所述多个网络和插入的所述气隙图案。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述排序中,还基于以下的至少一个排序所述多个网络:

所述多个网络的长度,或

所述多个网络中的邻近的网络的投影长度,其中,所述邻近的网络在相应的投影长度上方沿着彼此延伸。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述排序中,还基于以下的至少一个排序所述多个网络:

Cost2(i)=Cost1(i)/长度(i),

其中,

i表示所述多个网络中的第i个网络,

N是所述多个网络中的且邻近所述第i个网络的网络的数量,

j表示邻近所述第i个网络的N个网络中的第j个网络,

投影长度(j)是所述第i个网络和所述第j个网络在所述投影长度上方沿着彼此延伸的投影长度,以及

长度(i)是所述第i个网络的长度。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述气隙插入工艺还包括:

在邻近所述多个网络中的网络插入至少一个气隙图案之后,确定已经插入的所述气隙图案是否满足约束;

响应于确定已经插入的所述气隙图案不满足所述约束,

去除插入的所述至少一个气隙图案,和

进行至生成所述修改布局;以及

响应于确定已经插入的所述气隙图案满足所述约束,

根据所述排序顺序在邻近所述多个网络中的下一个网络处插入至少一个另外的气隙图案,和

返回至所述确定。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,

所述多个网络包括信号网络和至少一个虚拟网络,以及

所述方法还包括:在所述气隙插入工艺之前,在邻近至少一个所述信号网络处插入所述至少一个虚拟网络。

6.根据权利要求1所述的方法,还包括:

检查所述集成电路是否满足时序规范;

响应于确定所述集成电路不满足所述时序规范,

识别所述集成电路中的故障的信号路径,以及

对包括在所述故障的信号路径中的网络实施所述气隙插入工艺。

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