[发明专利]一种玻璃厚度检测装置及玻璃厚度检测方法在审
申请号: | 201510671857.0 | 申请日: | 2015-10-16 |
公开(公告)号: | CN105606034A | 公开(公告)日: | 2016-05-25 |
发明(设计)人: | 黄达泉;常俏;吴筱;张鑫;钟星辉 | 申请(专利权)人: | 北京奥博泰科技有限公司;李春业 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 许向彤;陈英俊 |
地址: | 100070 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 玻璃 厚度 检测 装置 方法 | ||
1.一种玻璃厚度检测装置,其特征在于,包括:
壳体,具有能够与被测玻璃表面接触的底面部,所述底面部为平面形状 且可透过光线;
两个光源,相对置地隔着规定间距设置在所述壳体的内部,可发出射向 所述底面部的检测用光;
光电检测部,由多个光检测单元排列构成,设置在所述壳体的内部,可 接收来自所述被测玻璃的反射光;
玻璃厚度计算部,根据由所述光电检测部输出的检测信息,计算所述被 测玻璃的厚度参数。
2.根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置,其特征在于,
在所述壳体的底面部设有狭缝。
3.根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置,其特征在于,
在所述光电检测部的光入射侧设置有滤光片,用于滤除杂散光。
4.根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置,其特征在于,
所述玻璃厚度计算部根据所述两个光源分别发出的所述检测用光照射到 所述被测玻璃后反射至所述光电检测部而得到的检测信息,分别计算被测玻 璃的厚度参数,并将该两个厚度参数的平均值作为最终的玻璃的厚度参数。
5.根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置,其特征在于,
所述光电检测部与所述壳体的底面部平行设置。
6.根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置,其特征在于,
当所述光电检测部检测到的反射光的有效波峰数为2时,判断为被测玻 璃是单片玻璃,有效波峰数为4时,判断为被测玻璃是双玻中空玻璃,有效 波峰数为6时,判断为被测玻璃是三玻两腔中空玻璃。
7.一种玻璃厚度检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
将玻璃厚度检测装置的底面部放置在被测玻璃的表面,使第一光源和第 二光源分别发射出检测用光;
光电检测部接收由所述被测玻璃的各表面反射的反射光;
玻璃厚度计算部根据所述光电检测部的输出结果,计算该被测玻璃的各 厚度检测值;以及
将基于第一光源的厚度检测值和基于第二光源的厚度检测值的平均值, 作为该被测玻璃的各厚度参数的最终检测值。
8.根据权利要求7所述的玻璃厚度检测方法,其特征在于,
在所述计算该被测玻璃的各厚度检测值的步骤中,当所述光电检测部检 测到的反射光的有效波峰数为2时,判断为被测玻璃是单片玻璃,有效波峰 数为4时,判断为被测玻璃是双玻中空玻璃,有效波峰数为6时,判断为被 测玻璃是三玻两腔中空玻璃。
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