[发明专利]发光装置的测试设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种发光装置的测试设备，特别是涉及可增加收光的发光装置的测试设备。

背景技术

图1所示为现有的发光装置的测试设备。此测试设备包含一承载体102，一电流源104及一积分球103。承载体102可供待测物101置于其上，并且由电流源104通过探针(probe)105a与105b与待测物101的电极接触而提供一电流至待测物101，待测物101因而放射出光线，其中探针固定装置106a与106b分别用以固定探针105a与105b。积分球103为一中空球体，包含一光输入口103i及一光输出口103e。待测物101置于积分球103的光输入口103i附近，且待测物101放射出的光线通过光输入口103i进入积分球103并为其所收集，光输入口103i具有一开口内直径W。待测物101发射出的光线在积分球103的内表面多次散射、反射后会均匀分布到积分球103的内表面上，由此特性，一侦测器108连接到积分球103的光输出口103e以量测待测物101的光学特性。侦测器108可通过一光纤107与积分球103的光输出口103e连接。侦测器108可为一光度计(photometer)、一辐射计(radiometer)、一分光辐射计(spectroradiometer)或一色度计colorimeter)。

如图2所示为图1的测试设备在收集光线时，待测物与积分球光输入口的距离及收光角度限制的情形，此测试设备在收集光线时，即使尽量调整待测物101向积分球103的光输入口103i靠近，但因受限于探针105a与105b的阻碍，待测物101与积分球103的光输入口103i的距离H有其限制，一般大致最靠近时可调整至6mm～8mm，而以一光输入口103i具有一开口内直径W为14mm的情形，其收光角θ约当90°～100°，即存在收光角度较小的缺点，容易有光线漏未收集的情形，而影响测试的精准度。

虽然在图1说明了现有的发光装置的测试装置，然而，此种现有的发光装置的测试装置并无法用于测试倒装式(Flip-Chip type)发光装置。如图9A或 图9B所示，为现有用以测试倒装式发光装置的测试设备，其中图9A所示为测试位于边缘的发光装置901的情形；而图9B所示则为测试位于非边缘的发光装置901的情形。此测试设备包含一透明的承载体902，一电流源(图未示)通过分别以探针固定装置906a与906b固定的探针905a与905b而提供一电流至待测的发光装置901。如图所示，多个发光装置901以阵列排列粘着于一薄膜912上，薄膜912例如是一蓝膜(blue tape)是架附固定于一环状体911。此多个发光装置901连同薄膜912都置于透明的承载体902上。由于发光装置901是倒装式的发光装置，具有两电极位于相对于其基板的同侧，且出光面在基板的另一侧。探针905a与905b由发光装置901的上方与发光装置901的电极接触，而发光装置901由下方出光，其中，承载体902为一透明的承载体，使位于承载体902下方的下积分球903L通过其光输入口903i收集上述发光装置901向下的出光。而为了使测试更精准，另一个积分球，即上积分球903U则被设置于发光装置901之上，用以通过其光输入口903i’收集发光装置901向上的光线，此部分主要是反射或散射的光线。而最终的量测数据为加总下积分球903L与上积分球903U的量测结果。

如图9B所示，测试位于非边缘的发光装置901时，待测的发光装置901周围会有其他发光装置901，而如图9A所示，测试位于边缘的发光装置901时，待测的发光装置901的外侧已没有其他发光装置901，故位于边缘的发光装置901，在测试时，其周围的情形与位于非边缘的发光装置901测试时其周围的情形不同。更详细地说，位于边缘的发光装置901测试时，部分向上的光线因缺乏其他发光装置901的反射作用而易漏失。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供一种发光装置的测试设备，包含一积分球、一探针用以于测试上述发光装置时传导一电流至上述发光装置、以及一连接部与上述积分球相接；其中，上述连接部具有一开孔或缺口，上述探针穿过上述开孔或缺口，且上述连接部具有一光输入口用以接收上述发光装置所发出的光。

本发明还提供一种发光装置的测试设备，包含一积分球包含一光输入口用以接收上述发光装置所发出的光、一透明承载体位于上述光输入口之上，用以承载上述发光装置、以及一反射装置邻近上述发光装置用以反射上述发 光装置所发出的光。

附图说明

图1为现有的发光装置的测试设备的示意图；