[发明专利]对计算机系统的BIOS进行测试的方法及装置

说明书

本发明公开了一种对计算机系统的BIOS进行测试的方法以及基于该方法对计算机系统的BIOS进行测试的装置。所述方法包括：顺序运行BIOS的多个子模块；记录已运行的子模块所对应的标识符，并存储在CMOS中；设置用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位；在计算机系统重启时，根据所述标志位的值来判定所述多个子模块的顺序运行是否为失败，如果为失败，则不进行所述记录。本发明的优点是：BIOS测试工程师无需像传统方法那样进行拆机，或依赖于外部工具和操作上较为复杂的第三方软件就可实现及时了解BIOS的运行信息、确定运行出错的子模块。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，具体涉及一种对计算机系统的BIOS进行测试的方法及装置。

背景技术

在对计算机系统(如笔记型电脑)进行测试的过程中，经常会出现各种死机，异常重启及关机的情况，当出现类似情况时，BIOS(Basic Input Output System，基本输入/输出系统)工程师需要立即了解当前的详细的BIOS代码(BIOS code)的数据信息。现有的解决方案通常有：1、发布特殊版本的BIOS，缺点是该方案增加了问题解决的时间；2、通过借助外部工具或者第三方软件来实现，缺点是：使用外部工具往往需要拆机步骤，并且增加了成本，而第三方软件在操作上比较复杂，不利于应用。

发明内容

本发明的目的在于提供一种对计算机系统的BIOS进行测试的方法及装置，通过该方法和/或装置，能够在不拆机前提下，简单易行地对BIOS中运行出错的子模块进行定位。

为了实现上述目的，本发明一方面提供了一种对计算机系统的BIOS进行测试的方法，包括：顺序运行BIOS的多个子模块；记录已运行的子模块所对应的标识符，并存储在CMOS中；设置用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位；在计算机系统重启时，根据所述标志位的值来判定所述多个子模块的顺序运行是否为失败，如果为失败，则不进行所述记录。

优选地，该方法还包括：记录已运行的子模块的检查点数据，并存储在CMOS中。

优选地，所述设置用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位具体包括：将所述标志位的值预设为用于标明所述多个子模块的顺序运行为失败的值；以及如果所述多个子模块的顺序运行为成功，则将所述标志位的值变更为用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功的值。

优选地，所述多个子模块包括：多个PEI模块和/或多个DXE Driver模块。

作为本发明的另一方案，还提供一种基于上述方法对计算机系统的BIOS进行测试的装置，包括：执行模块，其配置为顺序运行BIOS的多个子模块；记录转存模块，其配置为记录已运行的子模块所对应的标识符，并存储在CMOS中；标志位设置模块，其配置为设置用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位；以及判定模块，其配置为在计算机系统重启时，根据所述标志位的值来判定所述多个子模块的顺序运行是否为失败，如果为失败，则使所述记录转存模块失效。

优选地，所述记录转存模块还配置为：记录已运行的子模块的检查点数据，并存储在CMOS中。

优选地，所述标志位设置模块具体包括：标志位值预设模块，其配置为将所述标志位的值预设为用于标明所述多个子模块的顺序运行为失败的值；以及标志位值变更模块，其配置为如果所述多个子模块的顺序运行为成功，则将所述标志位的值变更为用于标明所述多个子模块的运行为成功的值。

优选地，所述多个子模块包括：多个PEI模块和/或多个DXE Driver模块。

附图说明

图1为本发明实施例的一种对计算机系统的BIOS进行测试的方法的流程示意图。

图2为本发明一优选实施例的对计算机系统的BIOS进行测试的方法的流程示意图。