[发明专利]一种图像传感器的坏点处理方法及系统

说明书

本发明实施例公开了一种图像传感器的坏点处理方法及系统，所述方法包括：预设坏簇类型与插值算法的映射表；检测坏点的位置信息以及坏点所对应的坏簇类型信息，并存储；根据坏点的位置信息在采集的图像中查找坏点，根据坏点所对应的坏簇类型信息在映射表中选择相匹配的插值算法，利用该插值算法对所述坏点进行插值处理。本发明实施例提供的一种图像传感器的坏点处理方法及系统根据外围坏点的分布类型对坏簇进行分类，针对坏点所对应的不同坏簇类型采用不同的插值算法，使得每个坏点都能得到最优的插值结果，进而提高图像传感器的坏点处理效果。

技术领域

本发明涉及图像传感器技术领域，特别是涉及一种图像传感器的坏点处理方法及系统。

背景技术

图像传感器是一种将光学图像转换成电子信号的器件，被广泛应用于摄像、图像采集以及工业测量等领域。通常，一个图像传感器包含大量的感光单元，每个感光单元对应于图像传感器所输出图像中的一个像素点。

由于制造工艺、运输或储存方式等方面的原因，使得图像传感器的某些感光单元损坏而不能正常感光，这些不能正常感光的感光单元在图像中所对应的像素点被称为坏点。其中，坏点主要包括以下三种类型：一、暗点坏点，该类坏点主要由于感光单元被彻底损坏而形成，表现在图像中是一个暗点；二、亮点坏点，该类坏点主要由于感光单元中的感光二级管和电源直接短接而形成，使得感光单元的电压一直处于高电平，表现在图像中是一个亮点；三、不稳定坏点，该类坏点主要由于制造方面的偏差，使得感光单元对光强的响应异于其周围感光单元的正常响应，表现在图像中其像素值比周围像素点的像素值偏高或偏低，且此类坏点对图像的影响会随外界环境的变化而变化。据此可知，坏点对图像的成像质量具有一定的影响，因此，必须对坏点进行处理。

现有技术中，坏点的处理方式主要包括以下步骤：

1)坏点检测：预先检测坏点的位置信息并保存；

2)坏点校正：根据坏点的位置信息在采集的图像中查找坏点，利用预设的插值算法对坏点进行插值处理。

其中，对坏点进行插值处理，具体为：利用插值算法对坏点周围像素点的像素值进行运算，将运算结果作为坏点的像素值对其初始像素值进行替换。现有技术中常用的插值算法主要有两种：一种是对坏点周围像素点的像素值进行加权平均，以加权平均值作为坏点的像素值；另一种是考虑图像信息的变化趋势，采用梯度算法对坏点周围像素点的像素值进行运算。但是，由于图像传感器所采集的图像中坏点的数量以及坏点出现的位置具有随机性，导致坏点的分布类型多种多样，采用现有的插值算法并非对所有的坏点都有较好的处理效果，尤其是当坏点分布较集中时，进行插值的坏点有可能会相互影响，进而影响图像传感器的成像效果。

发明内容

本发明实施例中提供了一种图像传感器的坏点处理方法及系统，以解决现有技术中坏点的处理效果较差，进而导致图像传感器的成像效果较差的技术问题。

为了解决上述技术问题，本发明实施例公开了如下技术方案：

一种图像传感器的坏点处理方法，所述方法包括：

预设坏簇类型与插值算法的映射表；检测坏点的位置信息以及坏点所对应的坏簇类型信息，并存储；根据坏点的位置信息在采集的图像中查找坏点，根据坏点所对应的坏簇类型信息在映射表中选择相匹配的插值算法，利用该插值算法对所述坏点进行插值处理；其中，所述坏簇类型具体为：图像中以坏点为中心的模块内外围像素点中外围坏点的分布类型。

优选地，所述以坏点为中心的模块为3×3模块，定义坏点的左右、左下右上、上下和左上右下方向为3×3模块中外围像素点的四个分布方向，根据外围坏点所占据分布方向的数量和/或外围坏点的数量归纳外围坏点的分布类型。