[发明专利]提高钙钛矿型氧化物薄膜光电性能的方法有效

专利信息
申请号: 201510685840.0 申请日: 2015-10-21
公开(公告)号: CN105336799A 公开(公告)日: 2016-02-17
发明(设计)人: 高荣礼;符春林;蔡苇;陈刚;邓小玲;邹吉华 申请(专利权)人: 重庆科技学院
主分类号: H01L31/0296 分类号: H01L31/0296
代理公司: 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216 代理人: 陈千
地址: 400023 重*** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 提高 钙钛矿型 氧化物 薄膜 光电 性能 方法
【权利要求书】:

1.一种提高钙钛矿型氧化物薄膜光电性能的方法,其特征在于:首先在钙钛矿型氧化物薄膜中引入氧空位;再对所述钙钛矿型氧化物薄膜施加电场,使氧空位在所述钙钛矿型氧化物薄膜内沿电场方向迁移,在钙钛矿型氧化物薄膜内形成氧空位梯度。

2.根据权利要求1所述的提高钙钛矿型氧化物薄膜光电性能的方法,其特征在于:在钙钛矿型氧化物薄膜中引入氧空位后,将所述钙钛矿型氧化物薄膜升温,然后再对其施加电场。

3.根据权利要求1所述的提高钙钛矿型氧化物薄膜光电性能的方法,其特征在于:在所述钙钛矿型氧化物薄膜内形成氧空位梯度后降温,并在降温过程中持续施加电场,使所述氧空位梯度固定。

4.根据权利要求1、2或3所述的提高钙钛矿型氧化物薄膜光电性能的方法,其特征在于:在对所述钙钛矿型氧化物薄膜施加电场的同时对其施加磁场,使氧空位在沿电场方向迁移同时,向洛伦兹力方向偏移。

5.根据权利要求4所述的提高钙钛矿型氧化物薄膜光电性能的方法,其特征在于:所述钙钛矿型氧化物薄膜上设有两个电极,两个所述电极与同一个电源连接,两个所述电极之间形成电场。

6.根据权利要求5所述的提高钙钛矿型氧化物薄膜光电性能的方法,其特征在于:所述电源为脉冲电源。

7.根据权利要求1、2或3所述的提高钙钛矿型氧化物薄膜光电性能的方法,其特征在于:在钙钛矿型氧化物薄膜中引入氧空位的具体方式为:将所述钙钛矿型氧化物薄膜进行真空退火,从而在所述钙钛矿型氧化物薄膜中引入氧空位。

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