[发明专利]一种测定单糖对映体过量值的方法

权利要求书

1.一种测定单糖对映体过量值的方法，其包括如下步骤：

1)利用静电吸附的方法将二肽聚乙烯亚胺聚合物接枝到石英微晶体天平芯片表面，形成聚合物薄膜；

所述二肽聚乙烯亚胺聚合物为其中，n为聚合度，其范围为5至200000；

2)分别利用不同的已知对映体过量值的单糖溶液浸泡步骤1)得到的石英微晶体天平芯片；

3)利用原子力显微镜的力学模式分别测定上述不同的已知对映体过量值的单糖溶液浸泡后的聚合物薄膜的杨氏模量大小，得到聚合物薄膜杨氏模量相对于对映体过量值的线性关系曲线；

4)提供未知对映体过量值的单糖溶液，重复步骤2)和3)得到杨氏模量值，该杨氏模量值对应的线性关系曲线上的对映体过量值即为测试结果。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤2)中的单糖溶液为核糖、脱氧核糖、葡萄糖、木糖、来苏糖、阿拉伯糖或甘露糖。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述二肽聚乙烯亚胺聚合物是通过取代反应，将氯乙酰氯化的二肽接枝到聚合度为5至200000的聚乙烯亚胺的侧链上，获得所述二肽聚乙烯亚胺聚合物，其中，所述二肽为所述氯乙酰化的二肽为

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述的二肽聚乙烯亚胺聚合物的制备方法包括如下步骤：

1)将所述二肽和三乙胺溶解在无水氯仿溶液之中，搅拌条件下，将氯乙酰氯逐滴滴加到上述溶液中，滴加结束后，室温下反应10-14小时，得到氯乙酰化的二肽1；

2)室温条件下，将聚乙烯亚胺，碘化钠和碳酸钾溶解到无水N,N-二甲基甲酰胺溶液中，搅拌条件下，将溶有1的N,N-二甲基甲酰胺溶液滴加逐滴滴加到上述溶液之中，避光氮气保护条件下反应22-26小时，经过提纯即可得到二肽聚乙烯亚胺聚合物PEI-g-D-DF；