[发明专利]扫描链、扫描链构建方法及装置

说明书

本发明提供一种扫描链、扫描链构建方法及装置，涉及集成电路技术领域，解决了现有技术中扫描链的故障诊断精度不高的问题。所述方法包括：提取电路中的所有扫描单元，组成扫描单元集合；获取所述扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度；创建扫描链集合，所述扫描链集合中的各扫描链均为空扫描链；由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。本发明适用于在具有复杂结构的大规模数字芯片电路中进行扫描链的构建。

技术领域

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种扫描链、扫描链构建方法及装置。

背景技术

通常，集成电路在流片前主要通过硅前验证(Pre-silicon Verification)来保证芯片的正确性。随着芯片的设计规模越来越大，复杂度越来越高，硅前验证的时间受到制约，使得芯片的硅前验证的工作难以充分进行，导致流片后的芯片存在故障。因此，需要在流片后对芯片进行硅后调试(Post-silicon Debug)，以发现并定位遗留在芯片中的错误，进一步保证芯片的正确性。

芯片的扫描链面积约占整个芯片的15％～30％，是最易产生故障的区域之一。据统计，扫描链故障数约占芯片总故障数的50％，扫描链自身的故障是影响芯片良率的主要因素。因此，当扫描链故障发生时，如何快速准确的定位扫描链故障，找到发生故障的原因，是提高芯片良率和缩短芯片产品周期的关键。

现有技术中可能出现的扫描链结构如图1和图2所示，如图1所示，属于同一个扫描单元o的扇入扫描单元a、b、c、d位于同一条扫描链上；如图2所示，属于同一个扫描单元o的扇出扫描单元a、b、c、d位于同一条扫描链上。对于上述扫描链结构来说，当扫描链发生故障时，很难准确的定位扫描链中出现故障的扫描单元。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下技术问题：

现有技术所构建的扫描链结构中，扇入到同一个扫描单元的多个扫描单元可能分配到同一条扫描链上，同一个扫描单元所扇出的多个扫描单元可能分配到同一条扫描链上，导致扫描链的故障诊断精度不高。

发明内容

本发明提供的扫描链、扫描链构建方法及装置，能够提升扫描链的故障诊断精度。

第一方面，本发明提供一种扫描链构建方法，包括：

提取电路中的所有扫描单元，组成扫描单元集合；

获取所述扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度；

创建扫描链集合，所述扫描链集合中的各扫描链均为空扫描链；

由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。

第二方面，本发明提供一种扫描链构建装置，包括：

扫描单元提取模块，用于提取电路中的所有扫描单元，组成扫描单元集合；

相关度获取模块，用于获取所述扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度；

空扫描链创建模块，用于创建扫描链集合，所述扫描链集合中的各扫描链均为空扫描链；

扫描链构建模块，用于由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。