[发明专利]利用光学显微镜图片判断石墨烯层数率的方法

权利要求书

1.一种利用光学显微镜图片判断石墨烯层数率的方法，其特征在于，

步骤一：利用显微镜拍下在特定衬底上石墨烯样品的光学图片以及相同光场下若干幅空衬底的光学图片；

步骤二：理论计算获得石墨烯在特定衬底上的对比度谱，并计算出不同厚度石墨烯在G刺激值范围内的对比度的平均值C₀

步骤三：使用matlab软件将多幅空衬底的光学图片上所有像素点的R、G、B三色的刺激值分别提取出来；

步骤四：将多幅空衬底的光学图片上所有像素点的G值取平均，得到G_衬底矩阵；

步骤五：将石墨烯样品上所有像素点的G_石墨烯值与衬底的G_衬底值对应点之间进行比较，得出对比度值C＝(G_衬底-G_石墨烯)./G_衬底，其中，‘./’为matlab中矩阵对应元素点之间相除的符号；

步骤六：利用对比度值C做出概率分布图，将该对比度值C与理论计算的对比度值C₀进行比较，分辨出石墨烯不同层对应的峰位置；

步骤七：将概率分布图进行拟合，拟合得到分别对应不同层数的多个峰，并得到峰面积；

步骤八：利用得到的指定拟合峰面积与各拟合峰面积之和相比的方法，判断石墨烯的层数率。

2.如权利要求1所述的利用光学显微镜图片判断石墨烯层数率的方法，其特征在于：步骤一中，空衬底的光学图片为若干副同样尺寸设置且在光场强度相同下进行采集的图片，特定衬底采用300nmSiO₂/Si衬底。

3.如权利要求1或2所述的利用光学显微镜图片判断石墨烯层数率的方法，其特征在于：步骤七中，使用数学软件将概率分布图进行拟合。

4.如权利要求1或2所述的利用光学显微镜图片判断石墨烯层数率的方法，其特征在于：步骤四与步骤五中，采用R值或者B值来进行处理和比较。