[发明专利]一种密封槽深度测量装置的测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及工件密封槽测量技术，特别涉及一种密封槽深度测量装置的测量方法。

背景技术

机械制造中，由于密封槽深度加工不准确，使用后致密封圈早期磨损、密封效果差、影响寿命、丧失密封功能。现有测量技术中，多用卡尺类量检具检测密封槽深度，由于测量人员技能水平以及量检具自身的精度所限，对检测有严格要求的密封槽深度，显得精度不足，误差较大。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，针对现有技术的不足，提供一种密封槽深度测量装置的测量方法，以达到对工件密封槽的深度精准测量的目的。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：一种密封槽深度测量装置的测量方法，所述的密封槽深度测量装置包括定位柱、测量筒、千分表，所述的定位柱一端设有开口，定位柱另一端设有与定位柱侧壁连接为一体的端壁，定位柱的开口与端壁之间形成腔体，所述的测量筒包括活动杆，所述的活动杆上伸出有置于所述定位柱腔体内的活塞体，所述的活塞体的内端面与定位柱的端壁之间通过弹簧连接，所述的活动杆的上端穿过所述的定位柱的端壁伸出，所述的千分表的测量头设置在该活动杆伸出端的上方并与其接触，所述的定位柱的开口端侧壁端面形成的环形端面与待测工件的环形密封槽形状相适应，在弹簧自然状态下，所述的活塞体的外端面与定位柱的开口端侧壁端面处于同一水平面上，所述的测量装置还包括千分表对零凸台，所述的千分表对零凸台包括底座、由底座上端面伸出的凸环，所述的凸环的环形外壁与所述的定位柱的开口端的环形内壁形状相适应，所述的凸环的厚度与待测工件的密封槽深度相同，所述的千分表对零凸台中部设有贯穿凸环、底座的通孔，所述的千分表连接在支架上，所述的方法包括以下步骤：

a)将定位柱开口端部卡在千分表对零凸台的凸环外壁，凸环顶起活塞体，弹簧收缩，活塞体带动活动杆向上移动，进而推动千分表测量头，把千分表校为零值；

b)撤下定位柱，弹簧复位，活塞体的外端面与定位柱的开口端侧壁端面重新处于同一水平面上；

c)将定位柱开口端部卡在待测工件的密封槽内，活塞体被工件的端面顶起，弹簧收缩，活塞体带动活动杆向上移动，进而推动千分表测量头，读出千分表的读数，该读数即为工件密封槽的深度和标准件的偏差值。

本发明采用上述方法，具有以下优点：1、用定位柱的开口端环形端面与活塞体下端面平面贴合接触，定位精度高，定位柱沿测量筒内壁上下滑移，避免了现有测量中因人为因素使测头偏斜致测量不准确；采用千分表读数，数值精确度更高；2、千分表可用千分表对零凸台校准，消除千分表自身误差，保持长期的准确性；3、活塞体与定位柱的腔体构成活塞结构，当弹簧被压缩时，腔体内的空气也被压缩，增加的压缩抵抗力，提高了测量准确性的同是也能够提高弹簧回复力。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明；

图1为本发明中密封槽深度测量装置的结构示意图；

在图1中，1、定位柱；2、千分表；3、活动杆；4、活塞体；5、弹簧；6、待测工件；7、底座；8、凸环；9、支架。

具体实施方式

如图1所示一种密封槽深度测量装置的测量方法，密封槽测量装置包括定位柱1、测量筒、千分表2，定位柱1一端设有开口，定位柱1另一端设有与定位柱1侧壁连接为一体的端壁，定位柱1的开口与端壁之间形成腔体，测量筒包括活动杆3，活动杆3上伸出有置于定位柱1腔体内的活塞体4，活塞体4的内端面与定位柱1的端壁之间通过弹簧5连接，活动杆3的上端穿过定位柱1的端壁伸出，千分表2的测量头设置在该活动杆3伸出端的上方并与其接触，定位柱1的开口端侧壁端面形成的环形端面与待测工件6的环形密封槽形状相适应；在弹簧5自然状态下，活塞体4的外端面与定位柱1的开口端侧壁端面处于同一水平面上。

测量装置还包括千分表对零凸台，千分表对零凸台包括底座7、由底座7上端面伸出的凸环8，凸环8的环形外壁与定位柱1的开口端的环形内壁形状相适应，凸环8的厚度与待测工件6的密封槽深度相同。千分表对零凸台中部设有贯穿凸环8、底座7的通孔。千分表2连接在支架9上。

密封槽深度测量装置的测量方法包括以下步骤：

a)将定位柱1开口端部卡在千分表对零凸台的凸环8外壁，活动杆3的下端伸入贯穿凸环8、底座7的通孔中，凸环8顶起活塞体4，弹簧5收缩，活塞体4带动活动杆3向上移动，进而推动千分表2测量头，把千分表2校为零值；

b)撤下定位柱1，弹簧5复位，活塞体4的外端面与定位柱1的开口端侧壁端面重新处于同一水平面上；