[发明专利]用于集成电路检测电磁故障注入攻击探测方法及探测器

权利要求书

1.一种用于集成电路检测电磁故障注入攻击探测器，其特征是，结构为：A1、A2、A3、A4、A5为5个反相器，级联形成环形振荡器，环形振荡器经反相器B缓冲后输出的振荡信号一路直接输入到组合逻辑延时比较结构Detector1中，另一路经过反相器C的反向，输入到另一个组合逻辑延时比较结构Detector2中；实现延时功能的组合逻辑D1和触发器E1组成了Detector1，组合逻辑D2和触发器E2组成了Detector2；Detector1的输入信号连接到其触发器输入端，Detector1的输入信号经过其组合逻辑输出到Detector1的触发器时钟输入端；Detector2的输入信号连接到其触发器输入端，Detector2的输入信号经过其组合逻辑输出到Detector2的触发器时钟输入端；两个Detector的输出经过一个或门F得到最终的报警信号Alarm。

2.如权利要求1所述的用于集成电路检测电磁故障注入攻击探测器，其特征是，通过增大环形振荡器中反相器内晶体管的沟道宽度W_eff，减小反相器的晶体管数目N来提高灵敏度。

3.一种用于集成电路检测电磁故障注入攻击探测方法，其特征是，用于集成电路检测电磁故障注入攻击探测方法，借助权利要求1所述探测器实现，并包括下列步骤，首先对探测器的组合逻辑D1和D2进行调试，使其延时等于环形振荡器输出信号周期的3/4；然后根据电路面积和安全性的需求，将探测器内嵌于需要保护的集成电路之中。