[发明专利]插件作业中元器件少件、错件和反向的光学检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子信息技术中的光学检测领域，具体涉及一种用于插件作业中元器件少件、错件和反向的光学检测方法，适用于电源电路等量大面广的集成电路产品。

背景技术

针对家电配套产品经SMT之后，人员插件作业时常有件被插错，件被少插，件被插反向等情况，这些问题需要品质作业人员判别，而作业人员通过长时间的目视判别易产生视觉疲劳，从而降低判断准确率。

发明内容

本发明提供一种插件作业中元器件少件、错件和反向的光学检测方法，在线光学检测设备利用摄像头代替人眼技术，通过图像处理算法对目标位置进行准确高效的判别，使判别标准一致性，可大幅度提升对产品外观品质的管控，减少使用人来判别。

为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：

一种插件作业中元器件少件、错件和反向的光学检测方法，包括如下步骤：

1）使用相机采集插件中元器件的RGB格式图像；

2）图像预处理：对图像在成像时因外界因素干扰造成成像无法显示图像的全部信息或者是对图像中不关注部分进行滤除，再将RGB格式图像转换为U8格式；

3）特征提取分析：对图像预处理后留下的关注部分的RGB格式图像和U8格式图像分别进行特征提取，采用多种图像算法依次判断产品元器件的少件、错件和反向，并输出检测结果；

4）以报表形式展现每日测试不良品排行，对测试数据进行存储方便日后追踪查询。

进一步地，所述图像预处理的方法包括如下方法：

灰度转换：对RGB图像转化至灰度图像U8格式，滤除丰富的颜色，只留下黑到白和黑到白中间过渡像素值的图像；

图像对比度、亮度调节：通过对图像整体像素值增加或减少图像的亮度，通过增加灰度值较大像素的像素值和减小灰度值较小的像素值，提高明暗物体的对比；

滤波：通过高斯滤波、均值滤波和中值滤波算法去除图像在拍摄中产生的噪声；

二值化：把RGB图像转换成灰度图像，通过对图像中每个像素与设定值进行比对，对于大于设定的值像素转换为1，否则为0转换图像；

图像算法变换：对图像进行像素加、减、与、或逻辑关系运算进行转换；

粒子分析：对转换成灰度的图像去除物体边缘的细小粒子或填充图像中待分析区域细小的空洞部分。

进一步地，步骤3）特征提取分析中，所述RGB格式图像的图像算法包括：

图像颜色提取分析：通过灯光照射在物体上反射出不同颜色的光，通过对光的分析提取每种光的灰阶或进行灰阶的累积求和取得物体颜色，通过提取取的颜色来判别物体的颜色是否符合要求，判断物体是否因为颜色错件或少件；

图像颜色结合局部形状分析：通过提取从物体上反射出来的灰阶值和灰阶之间过度形成的轮廓组合判断物体颜色和形状是否与需要的物体一致，确定错件、少件或反向。

进一步地，步骤3）特征提取分析中，所述U8格式图像的图像算法包括：

图像边缘检测分析：把RGB图像转换成灰度图像，通过设置灰阶之间过度的值来确定过度的点、线、面的个数，利用个数来判断物体是否反向或少件；

几何形状检测分析：转换RGB图像为灰度图像，通过灰阶之间的过度区域组合形成明显的物体轮廓来描绘图像形状，分析与待测物体轮廓是否一致，判断物体是否少件或者反向；

亮度检测分析：把RGB图像转换成灰度图像，对图像中待分析区域灰阶值进行求取最大值、最小值和累加值，判断被分析区域的发光物体是否存在；

轮廓检测分析：把RGB图像转换成灰度图像，通过设置灰阶之间过度的值过滤掉不需要的图案，保留需要的图案，通过图案对比判断物体是否少件或错件；

尺度测量检测分析：通过图像和实际拍摄面积计算出单个像素占有的实际物理尺寸，通过提取图像中待分析区域的像素值来计算图案的面积、距离，利用求得的距离或面积来判断待分析的区域特征的距离或面积是否正常，判断物体是否反向，错件或少件；

数码管读数分析：通过放大或缩小图像待分析区域数码管中七段码的特征，区别不同显示图案，按照对不同图案的定义来判别图案显示的内容，通过定义的内容来判断数码管发光显示是否正常或数码管是否少件；

文字识别分析：提取图像中待分析区域图案，分析图案以文字或标示符方式命名在文件中，对相似图案进行命名提取文字或标示符，通过对读取的文字或标示符来判断物体是否少件或错件。