[发明专利]手感测试头在审
申请号: | 201510700850.7 | 申请日: | 2015-10-26 |
公开(公告)号: | CN105277349A | 公开(公告)日: | 2016-01-27 |
发明(设计)人: | 刘利刚 | 申请(专利权)人: | 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 手感 测试 | ||
技术领域
本发明涉及一种测试机构,特别是涉及一种手感测试头,属于键盘自动化检测设备用零部件技术领域。
背景技术
作为主要的输入结构,按键被广泛地应用于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品中;对于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品而言,工作时必须敲打按键以使得按键触点导通断开,从而将字母、数字、标点符号等输入到相应的计算机、手机或者计算器中。
因此,键盘的质量及其功能是否正常操作,将直接影响到电子设备操作的稳定性。同时,在键盘中直接的操作单元是按键,所以按键的品质测试对于键盘而言,是至关重要的环节。在键盘生产过程中,出产前必须对键盘成品进行质量检测,需要对每一个按键进行击打,以测试其回弹和触点的通断等测试项目。
然而,目前业界对于键盘按键的测试,一般采用人工或机器来测试。人工测试方式是以雇用大量劳工逐一按压键盘中每一个按键,采用人工测试方式存在诸多缺点:需要操作人员与测试软体交互配合,在测试软体发出命令之后,等待操作人员按压按键;测试时间较长且效率低;操作人员按压按键时可能出错,需要多次反复测试;以及操作人员容易操作疲劳而出现怠工现象等。
现有技术中采用机器测试键盘的方式已经得到越来越广泛的应用,但是现有键盘自动化测试设备仍存在机械结构复杂、不易维修、通用性差、定位精度低等缺陷。
发明内容
本发明的主要目的在于,克服现有技术中的不足,提供一种新型结构的手感测试头,特别适用于计算机键盘测试。
本发明所要解决的技术问题是提供结构紧凑、拆装方便、制作容易、安全可靠、实用性强的手感测试头,用于在减少人工参与的前提下,实现键盘的自动测试手感性能,不仅自动化程度高,测试准确高效;而且可克服传统的元器件测试结构复杂不便于维护的缺点,简便耐损,大幅节省测试设备的更换成本;且具有产业上的利用价值。
为了达到上述目的,本发明所采用的技术方案是:
一种手感测试头,包括垂直设置的固定架、安装于固定架的测试头组件,所述测试头组件自上而下包括依次相连的弹性柱、传感器挂板、称重传感器和测试头;所述传感器挂板通过设于固定架的限位块获得支撑。
其中,所述弹性柱的顶端固定于固定架,弹性柱的底端固定于传感器挂板的顶面;所述传感器挂板通过侧面安装滑块与设于固定架的滑轨相连,所述滑轨为垂直设置;所述称重传感器的一侧顶端悬挂式固定于传感器挂板,称重传感器的底端连接有测试头;所述称重传感器与传感器挂板之间保持有传感器过载保护槽,所述测试头的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键。
本发明进一步设置为:所述固定架包括底板,垂直设置于底板的固定环;所述弹性柱固定于固定环。
本发明进一步设置为:所述弹性柱包括依次套装的外筒和内筒,以及内设于外筒的弹簧;所述外筒的顶端固定于固定环,所述内筒的顶端套入外筒的底端并与弹簧相连、内筒的底端与传感器挂板的顶面相固定。
本发明进一步设置为:所述内筒的底端贯穿入传感器挂板的顶面并固定。
本发明进一步设置为:所述传感器挂板和限位块通过调整螺丝相连,所述调整螺丝分布于限位块的底面、贯穿限位块后延伸入传感器挂板并固定。
本发明进一步设置为:所述传感器挂板为倒L型,包括处于水平分布的横向悬梁和处于垂直分布的纵向立梁;所述滑块和称重传感器分别分布在纵向立梁的两侧,所述称重传感器分布在横向悬梁和纵向立梁所围成的空间里。
其中,所述横向悬梁的一侧端与纵向立梁相连,横向悬梁的另一侧端与称重传感器的一侧顶端相连;所述测试头分布在称重传感器的另一侧底端,所述传感器过载保护槽位于横向悬梁的底面和称重传感器的顶面之间;所述纵向立梁的顶端与弹性柱的底端相连,纵向立梁的一侧端与滑块相连,纵向立梁的另一侧端与称重传感器保持空隙。
本发明进一步设置为:所述纵向立梁设置有凹型的避让孔,所述避让孔设置在面对称重传感器的纵向立梁的侧面上;所述滑块通过螺栓固定于纵向立梁,螺栓从避让孔处贯穿纵向立梁后与滑块相连。
与现有技术相比,本发明具有的有益效果是:
通过固定架和测试头组件的设置,其中测试头组件自上而下包括依次相连的弹性柱、传感器挂板、称重传感器和测试头,采用称重传感器按压按键的方式来实现按键的手感测试,测试头组件安全性能高,使用寿命长,可大幅节省成本,并且测试准确高效;更重要的是,通过传感器过载保护槽的设置,提高称重传感器的防损能力,可克服传统的元器件测试结构复杂不便于维护的缺点,简便耐损,从而大幅节省测试设备的更换成本。
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