[发明专利]一种齿面等间隔采样提高齿轮测量精度的方法在审

专利信息
申请号: 201510703588.1 申请日: 2015-10-27
公开(公告)号: CN105277165A 公开(公告)日: 2016-01-27
发明(设计)人: 林敏;张秋阳;孙峰;顾运萍;刘盟盟 申请(专利权)人: 第一拖拉机股份有限公司
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 洛阳公信知识产权事务所(普通合伙) 41120 代理人: 陈英超
地址: 471004 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 间隔 采样 提高 齿轮 测量 精度 方法
【权利要求书】:

1.一种齿面等间隔采样提高齿轮测量精度的方法,其特征在于:具体方法步骤如下:

【1】根据齿面粗糙度和采样定理选择齿面间隔,给出了齿轮测量仪器涉及的10个等级的齿轮采样间隔;

【2】将齿面的采样间隔分解成展开长度和展开角两个变量,计算出齿面各采样间隔ΔSi对应的展开角间隔Δφi和展开长度间隔ΔLi

S=1/2rbφ2得:φ=(2S/rb)1/2------------(公式1),

ΔS=ΔSi-ΔSi-1;i=1,2,…n得:

ΔS=1/2rb(φi-1Δφi+Δφi2);i=1,2,…n-----------(公式2),

公式2变形为:ΔS=1/2rbΔφi(φii-1);i=1,2,…n---------(公式3),

由公式1和公式3得对应展开角和展开长度上的间隔:

Δφi=(i1/2–(i-1)1/2)(2ΔS/rb)1/2i=1,2,…n---------(公式4),

ΔLi=(i1/2–(i-1)1/2)(2ΔSrb)1/2i=1,2,…n---------(公式5),

式中:rb————渐开线基圆半径;

Δφi——第i个展开角间隔;

ΔLi——第i个展开长度间隔;

【3】对圆光栅的采样点进行处理,根据采样间隔公式由软件具体算出每一个采样点的位置,将这些采样点与圆光栅的所有采样点位置相比较,选择出与计算的各个采样点位置最为相近的点,重新组成一组采样点;

【4】用齿轮测量仪器对处理得到的新的采样数据进行后续传统的处理,得出测量的齿形误差曲线和误差结果。

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