[发明专利]一种品质提升的蓝宝石晶片图形化基板蚀刻失败后返工工艺在审

专利信息
申请号: 201510704710.7 申请日: 2015-10-27
公开(公告)号: CN105304473A 公开(公告)日: 2016-02-03
发明(设计)人: 陆晶程;王禄宝 申请(专利权)人: 江苏吉星新材料有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L21/304;H01L21/66
代理公司: 上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 代理人: 陈丽君
地址: 212200 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 品质 提升 蓝宝石 晶片 图形 化基板 蚀刻 失败 返工 工艺
【权利要求书】:

1.一种品质提升的蓝宝石晶片图形化基板蚀刻失败后返工工艺,其特征为,其工艺流程如下:

一、清洗:

(1)将图形化基板蚀刻失败后的蓝宝石晶片在丙酮中静置浸泡30min,去除蓝宝石晶片表面的油污;

(2)蓝宝石晶片表面光刻胶的清洗:在酸洗槽中按5:1的质量比将H2SO4与H2H2配制成酸洗液,将酸洗液加热到140℃,将经过步骤一(1)处理后的蓝宝石晶片放置到酸洗槽中,浸泡5分钟,后使用纯水冲洗200秒,将蓝宝石晶片表面的酸液冲净;

(3)烘干:使用甩干机将经步骤一(2)清洗后的蓝宝石晶片甩干,确保蓝宝石晶片表面无水渍残留;

二、分选:

(1)检测:在强光等下检测经步骤一清洗后的蓝宝石晶片表面,先剔除掉有裂痕和崩边的蓝宝石晶片;

(2)厚度排列:对每片蓝宝石晶片进行厚度的测量,将蓝宝石晶片按厚度从小到大的顺序排列,每批蓝宝石晶片的数量与抛光机的每个RUN的片数相同,每批蓝宝石晶片之间厚度的差异控制在3um以内;

三、CMP抛光去除蓝宝石晶片表面缺陷,所述CMP抛光采用贴蜡抛光的工艺:

(1)将表面光滑平坦度好的圆形陶瓷盘放置于加热平台上,使圆形陶瓷盘的光滑面朝上,加热至90℃,陶瓷盘的厚度为2±0.5cm;

(2)采用融点为60℃的固态蜡,将固态蜡均匀涂在陶瓷盘表面,此时,固态蜡融化成粘蜡,将经步骤二分选后的蓝宝石晶片贴于融化后的粘蜡上,需抛光面朝上;

(3)将贴有蓝宝石晶片的陶瓷盘放置于气囊压片机上,放下气囊垫,一方面挤压出蓝宝石晶片和陶瓷盘之间粘蜡和气泡,另一方面对陶瓷盘进行冷却,使粘蜡凝固;

(4)陶瓷盘放于抛光机上,抛光机采用单轴压力控制系统,抛光机的下盘面为贴有抛光布的表面平坦的铅盘,将陶瓷盘放置于抛光机下盘面,贴有蓝宝石晶片的一面朝下,放下上轴;

(5)进行抛光,抛光采用碱性抛光液,所述碱性抛光液成分包括SIO2,KOH,络合剂,碱性抛光液的PH值为10~11.5,抛光压力为100-200kg,转速为40-50RPM,将下盘面的温度保持在40-45℃,抛光时间为100分钟;

(6)抛光结束后,将陶瓷盘放入水槽中,贴有蓝宝石晶片的一面朝上,用纯水冲洗蓝宝石晶片表面的抛光液,后用气枪吹干;

(7)将吹净后陶瓷盘放置在加热平台上,将温度加热至90℃后,使蓝宝石晶片背面的凝固的粘蜡融化,取出蓝宝石晶片,装入晶舟盒中;

(8)将取出的蓝宝石晶片放入配有碱性清洗液的清洗槽中,开启加热和超声,去除蓝宝石晶片背面残余的粘蜡,所述碱性清洗液为NaOH溶液或KOH溶液,所述NaOH或KOH的质量百分比为2%-5%。

2.如权利要求1所述的一种品质提升的蓝宝石晶片图形化基板蚀刻失败后返工工艺,其特征为,所述CMP抛光去除蓝宝石晶片表面缺陷时,所述蓝宝石晶片以陶瓷盘距边缘1-2cm处为边界以逆时针方向进行贴片,蓝宝石晶片在陶瓷盘上以陶瓷盘的圆心为中心对称分布,且,在所述陶瓷盘上设有空白区域,所述空白区域是以陶瓷盘圆心为原点,以4-6cm为半径的圆的区域。

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