[发明专利]黄土层静校正方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及石油勘探技术领域，特别涉及一种黄土层静校正方法及装置。

背景技术

静校正问题作为地质勘探中经常出现的问题，一直是地质勘探的难点，目前常有的静校正方法主要有：小折射法、微测井法和折射静校正方法。

然而，上述几种静校正方法都存在不同层面的问题，例如，对于小折射法，在低速带调查中，由于排列的长度有限，导致观测到的初至折射波的偏移距较小，难以全面反映低速带底界的形态，因此，对地形起伏剧烈或者是表层速度变化较大的地区并不适用；对于微测井方法，能够较准确地确定测点处表层速度随深度变化的规律，但对于低速带厚度较大或者是速度变化较大的工区，必须增加测点数量，测点数量的增多必然导致成本升高；对于折射静校正方法，仅适用于地表起伏不大、表层速度横向均质性较好、存在明显折射界面且界面比较平滑的地区。

此外，还有一些其它的静校正方法，例如：基于浅层折射和统计分析的静校正方法，具体地，包括：交互迭代静校正、多域迭代静校正、模拟退火静校正等。然而，这些静校正方法对野外数据的精度有很高的要求，因此也无法广泛应用。

针对如何进行低成本准确性高的静校正，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种黄土层静校正方法及装置，以达到在保证静校正结果准确性的同时降低成本的目的。

本发明实施例提供了一种黄土层静校正方法，包括：采集工区的电磁数据，其中，所述工区中有M个电磁测点，所述M个电磁测点中有N个电磁测点为微测井点，有Z个电磁测点为深微测井点，M、N、Z为正整数；对所述电磁数据进行反演，得到各个电磁测点的黄土层的反演厚度和反演电阻率；根据N个微测井点的微测井数据，得到各个微测井点的黄土层厚度和黄土层速度；对Z个深微测井点进行黄土层电阻率标定；根据所述黄土层电阻率的标定结果，对各个电磁测点的反演电阻率进行追踪，得到所述各个电磁测点的黄土层厚度；检测各个微测井点的电阻率，并根据各个微测井点的黄土层速度和电阻率，建立速度与电阻率拟合关系式，并求取各个微测井点不同阶的多项式拟合系数；将各个微测井点的黄土层的反演厚度、反演电阻率和不同阶的多项式拟合系数代入所述速度与电阻率拟合关系式，得到各个微测井点不同阶的多项式拟合系数所对应的拟合速度，并根据所述拟合速度确定统一多项式拟合阶数，以求取各个微测井点在该统一多项式拟合阶数下的拟合系数；根据所述各个微测井点在该统一多项式拟合阶数下的拟合系数，进行线性插值得到所述M个电磁测点中各个电磁测点的拟合系数；将各个电磁测点的拟合系数、黄土层的反演厚度和反演电阻率，代入所述拟合关系式，得到各个电磁测点的速度；根据所述各个电磁测点的黄土层厚度和各个电磁测点的速度，进行黄土层静校正。

在一个实施例中，所述速度与电阻率拟合关系式为：