[发明专利]一种检测探针排异常的电池片及其用于检测的操作方法在审
申请号: | 201510710248.1 | 申请日: | 2015-10-28 |
公开(公告)号: | CN106653633A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 张良;李化阳;姚玉;李良;王霞;朱红艳;顾婷婷 | 申请(专利权)人: | 镇江大全太阳能有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L31/0224 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 212211 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 探针 异常 电池 及其 用于 操作方法 | ||
技术领域
本发明涉及晶体硅太阳能电池质量检测领域,具体公开一种检测探针排异常的电池片及其用于检测的操作方法。
背景技术
一个具有市场竞争力的晶体硅太阳能电池企业不仅具备高效率、低成本的特点,而且必须能够提供稳定性的产品。而稳定的产品质量首先需要用稳定、准确的电性能测试系统作为保证,在一个电性能测试系统中,探针排作为仪器测试电池效率的直接接触部件,它的稳定性以及与电池电极的接触是否良好直接决定了生产线电池测试的稳定性和准确性。
由于测试仪器中的探针排是机械运动部件,在长时间的测试中很容易出现探针脱落,探针与正面主栅、背面电极接触不良,以及探针架或者接头松动等情况。而目前晶体硅太阳能电池生产企业对测试仪器探针排的监控主要依靠日常目测点检,这种监控无法监测到探针是否接触良好以及探针松动等微小变化,具有很大的检测盲区,很容易得出错误的结论;而且目测监控具有极大的随意性和主观性,对于测试设备探针排是否出现异常,不能通过量化判断给出准确的结论。
这样情况下很容易造成测试错误或者测试不稳定,一方面会误导产线工程师的判断,给工程师的工作造成极大的困扰同时也造成了精力的浪费;另一方面测试错误或者不稳定会造成电池片效率混档,客户在制作组件时出现组件异常,给晶体硅太阳能电池制造企业和组件厂家造成了很大的困扰和经济损失。
发明内容
本发明的目的在于:为解决以上问题提供一种更容易监控晶体硅太阳能电池电性能测试仪探针排异常状态,可及时发现问题解决问题,避免产生测试错误或者测试不稳定的电池片及其用于检测的操作方法。
本发明所采用的技术方案是这样的:
一种检测探针排异常的电池片,包括电池片,
在所述电池片正面正对上探针排的位置设置有若干主栅线,且每条主栅线均匀断开成若干段;与所述主栅线垂直方向上均匀间隔分布有若干细栅线,且每条细栅线均匀断开成若干段;断开的主栅线和细栅线分布呈若干相同区域;
在所述电池片的背面均匀分割成若干互不连接的方形区域,每个方形区域对应所述电池片正面各个区域。
进一步地,所述主栅线的数量和所述细栅线断开段数与探针排的排数一致。
进一步地,所述主栅线断开的段数与探针排每排上的探针组数一致。
进一步地,所述电池片正面或背面划分的区域数与探针排所有探针组数一致。
本发明的另一个技术方案是这样的:
一种检测探针排异常的电池片用于检测的操作方法,包括如下步骤:
(1)标片的制作;首先在一台确认无异常的探针排上对所述电池片进行电性能数据标定,作为标片;
(2)跑片测试;用步骤(1)中制作的标片置于待检测的探针排上跑片,获得相应的电性能数据;
(3)对比电性能数据;
若步骤(2)中获得的电性能数据与步骤(1)中标片一致,则判定该探针排无异常;
若步骤(2)中获得的电性能数据相对步骤(1)中标片数据降低n倍的1/方形区域数*100%,则有n组探针排有异常;
若步骤(2)中获得的电性能数据相对步骤(1)中标片数据降低接近1/方形区域数*100%,需要通过定时跑片,监控电池效率降低幅度的趋势来判定探针排是否出现异常。
综上所述,由于采用上述技术方案,本发明的有益效果是:
1、本发明仅仅修改电池片表面图形设计,简单方便,且不增加额外成本与费用;
2、本发明中的检测方法能够通过测试的数据变化准确给出测试仪器是否出现异常,有多少组探针排出现问题;
3、检测时耗时短,通过一次跑片就可以判定探针排是否出现问题,极大地降低了监控探针排对生产产能的影响;
4、方法简单,生产操作人员即可,无需额外安排专人进行监控,节约了人工成本;
5、保证了产品的稳定性,降低产品不良率,降低生产成本。
附图说明
图1为本发明电池片正面结构图;
图2为本发明电池片背面结构图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步详细说明。
如图1~2所示,一种检测探针排异常的电池片,包括电池片,在所述电池片正面正对上探针排的位置设置有4条主栅线1,且每条主栅线1均匀断开成8段;与所述主栅线1垂直方向上均匀间隔分布有若干细栅线2,且每条细栅线2均匀断开成4段;断开的主栅线1和细栅线2分布呈32个相同区域;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于镇江大全太阳能有限公司,未经镇江大全太阳能有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510710248.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种半导体器件焊接机构
- 下一篇:监控离子植入剂量和植入均匀性的方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造