[发明专利]一种数显卡尺自动化检测系统在审

专利信息
申请号: 201510715565.2 申请日: 2015-10-29
公开(公告)号: CN105241321A 公开(公告)日: 2016-01-13
发明(设计)人: 张洪;杜汶励;孙春龙 申请(专利权)人: 江南大学
主分类号: G01B3/20 分类号: G01B3/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 214122 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 种数 显卡 自动化 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种数显卡尺自动化检测系统,其特征在于:所述的数显卡尺自动化检测系统包括计算机、数显卡尺测量系统、光栅检测系统、驱动控制器,所述的计算机通过RS232与光栅检测系统连接,通过USB与数显卡尺检测系统、驱动控制器分别连接。

2.如权利要求1所述数显卡尺自动化检测系统,其特征在于:所述的驱动控制器包括控制板和步进电机,控制板接收计算机发送的位移指令控制步进电机的方向及位移。

3.如权利要求1所述数显卡尺自动化检测系统,其特征在于:所述的计算机有人工检测和自动检测两个模式。

4.如权利要求3所述数显卡尺自动化检测系统,其特征在于:所述的人工检测模式是指人为地输入检测点的位移距离,对所有检测点一一进行检测。

5.如权利要求3所述数显卡尺自动化检测系统,其特征在于:所述的自动检测模式的检测过程如下:①数显卡尺尺头紧闭,装载在仪器上,计算机读取光栅当前值,作为绝对原点ABS0;②在计算机上输入需要检测的次数n,发送第一个检测点的位移命令进行定位;③控制板收到位移命令回复接收成功给计算机,并发送脉冲控制步进电机运动;④移动完成后,控制板发送移动完成命令给计算机;⑤计算机收到移动完成命令后,读取当前值与ABS0相减取模,计算实际移动距离S0;⑥准备进行下一个检测点的校验,直至所有检测点检测完成;⑦反复检测n遍,得到n组位移数据,进行均值滤波,用平均值代替测量值,最后对该组平均值采用最小二乘法进行线性拟合,得到参数输入到卡尺中。

6.如权利要求5所述数显卡尺自动化检测系统,其特征在于:所述的平均值是n组数据采用均值滤波法计算得到的,将每个点的n个数据计算出平均值来代替测量值,最终得到一组平均值。

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