[发明专利]光学检测仪触发装置及具有该触发装置的光学检测仪

说明书

本发明公开了一种光学检测仪触发装置以及具有该触发装置的光学检测仪。该光学检测仪触发装置包括：触发开关，用于在受到触发时启动光学检测以发出检测光；中空的通光轴，用于供检测光从其内腔穿过而到达被测物，所述通光轴与触发开关具有固定的相对位置；和移动触发器，其能够相对于通光轴接近或远离触发开关移动以使触发开关触发或使触发开关复位。该光学检测仪触发装置通过移动触发器相对于触发开关的移动来自动触发光学检测仪的检测操作和及时中止检测操作，既可以提高触发装置的触发速度和效率，又可以减小检测操作的复杂性，避免由于触发和复位操作的错误导致损失。

技术领域

本发明涉及光学检测仪领域，尤其涉及一种光学检测仪触发装置及光学检测仪。

背景技术

光学检测仪，例如光谱仪，是在工业中广泛使用的检测设备，其可以用于对液体、气体、大块固体、粉末等各种检测对象的多种性质进行检测。而采用光学检测仪对于物品进行检测时，通常会需要一种触发装置来启动光学检测过程，例如触发激光的发射和检测模块开始接收和处理数据。

在现有的光学检测仪中，主要采用光纤探头和按钮开关或按键来控制激光的发射，这种方式需要对每次检测单独进行手工触发，对于一些检测工作量大，检测速度要求快的场合并不适用。

为此，需要提供一种触发速度快、操作方便连贯、效率高的触发装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种触发速度快、操作方便连贯、效率高的光学检测仪触发装置。

为了实现上述发明目的，本发明的技术方案通过以下方式来实现：

根据本发明的一个方面，提供一种光学检测仪触发装置，包括：

触发开关，用于在受到触发时启动光学检测以发出检测光；

中空的通光轴，用于供检测光从其内腔穿过而到达被测物，所述通光轴与触发开关具有固定的相对位置；和

移动触发器，其能够相对于通光轴接近或远离触发开关移动以使触发开关触发或使触发开关复位，其中，所述移动触发器可以包括承载被测物的托板，所述触发装置还包括承载托板的滑槽座，所述托板能够沿滑槽座移动以使被承载于托板上的被测物朝向或远离触发开关移动。

进一步地，所述触发开关可以固定于开关支座，用于使检测光射出的通光轴的出光口可以设于所述开关支座在触发开关下方的位置处。所述通光轴与所述滑槽座固定连接，并保持与所述开关支座的固定的位置关系。

再进一步地，所述托板可以设置有挡光板，所述挡光板能够随托板朝向或远离通光轴的出光口移动。

具体地，所述滑槽座可以设有限位开关，所述限位开关用于在挡光板与触发开关处于预定距离时关断触发开关。

具体地，托板可以设置有用于容纳被测物的被测物垫或凹陷。

根据本发明的另一方面，提供一种具有如上所述的任一种光学检测仪触发装置的光学检测仪。

本发明的上述技术方案中的至少一个方面通过移动触发器相对于触发开关的移动来自动触发光学检测仪的检测操作和及时中止检测操作，既可以提高触发装置的触发速度和效率，又可以减小检测操作的复杂性，避免由于触发和复位操作的错误导致损失。

附图说明

图1示出根据本发明的一实施例的触发装置的示意性立体图；

图2示出如图1所示的触发装置的示意性侧视图；

图3示意性地示出如图2所示的触发装置沿A-A线截得的部分剖视图；

图4示出根据本发明的另一实施例的触发装置的示意性的侧视图；

图5示出如图4所示的触发装置的沿A’-A’线截得的示意性正向剖视图；和