[发明专利]一种监测并统计底层硬件行为的方法及装置在审
申请号: | 201510718898.0 | 申请日: | 2015-10-30 |
公开(公告)号: | CN105573885A | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
发明(设计)人: | 关红波 | 申请(专利权)人: | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
主分类号: | G06F11/30 | 分类号: | G06F11/30 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102209 北京市昌平区北七家未*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 监测 统计 底层 硬件 行为 方法 装置 | ||
1.一种监测并统计底层硬件行为的方法,其特征在于,所述方法包括:
在中央处理器CPU总线上挂接监测统计模块;所述监测统计模块统计并监 测上层应用的底层硬件行为,并对所述上层应用的底层硬件行为进行分类统计, 获得上层应用的底层硬件行为的分类统计数据。
2.根据权利要求1所述监测并统计底层硬件行为的方法,其特征在于,所 述分类统计的对象包括以下至少之一:特定模块的操作次数、特定模块的运行 时间、CPU访问程序存储器的次数、CPU访问数据存储器的次数、CPU执行特 定程序的时间。
3.根据权利要求1或2所述监测并统计底层硬件行为的方法,其特征在于, 所述方法还包括:
针对每个统计对象,都设置使能开关,可在程序运行过程中随时启动和关 闭所述使能开关。
4.根据权利要求1或2所述监测并统计底层硬件行为的方法,其特征在于, 所述方法还包括:针对不同的统计对象分别设置相应的寄存器用来存储统计数 据。
5.根据权利要求1或2所述监测并统计底层硬件行为的方法,其特征在于, 所述方法还包括:
统计操作用计数器来实现,且所述计数器采用现场可编程门阵列FPGA外 部稳定的时钟源。
6.一种监测并统计底层硬件行为的装置,其特征在于,所述装置包括:监 测统计模块,所述监测统计模块挂接在中央处理器CPU总线上;所述监测统计 模块用于统计并监测上层应用的底层硬件行为,并对所述上层应用的底层硬件 行为进行分类统计,获得上层应用的底层硬件行为的分类统计数据。
7.根据权利要求6所述监测并统计底层硬件行为的装置,其特征在于,所 述分类统计的对象包括以下至少之一:特定模块的操作次数、特定模块的运行 时间、CPU访问程序存储器的次数、CPU访问数据存储器的次数、CPU执行特 定程序的时间。
8.根据权利要求6或7所述监测并统计底层硬件行为的装置,其特征在于, 监测统计模块包括n组计数器及n组寄存器,n为大于1的整数;每组计数器 独立工作并分别受使能开关控制,只有使能有效时,所述计数器才会进行统计 计数;每组寄存器用来保存相应计数器的统计数据。
9.根据权利要求8所述监测并统计底层硬件行为的装置,其特征在于,所 述计数器采用现场可编程门阵列FPGA外部稳定的时钟源。
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