[发明专利]一种基于二元假设检验的混沌检测方法在审

专利信息
申请号: 201510732310.7 申请日: 2015-10-31
公开(公告)号: CN105227247A 公开(公告)日: 2016-01-06
发明(设计)人: 朱胜利;甘露;廖红舒 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H04B15/00 分类号: H04B15/00
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 二元 假设检验 混沌 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于二元假设检验的混沌检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、设接收序列为yn,对于相空间中的点为(yn,yn+1),对所述yn进行升序排列得令则(tn,zn)是重排后相空间中的点,其中,n是不为零的自然数;

S2、将S1所述重排后相空间中的点(tn,zn)的纵坐标zn按顺序均分为M组,每组K个点,则有N=MK;

S3、计算S2所述M组数据的均值和方差σ^m2=1K-1Σk=1K(z(m-1)K+k-μ^m)2;]]>

S4、根据分段数据求解判决变量G=Kσ^2σ^μ2,]]>其中,σ^μ2=1M-1Σm=1M(μ^m-μ^)2]]>表示均值的方差,μ^=1MΣm=1Mμ^mσ^2=1MΣm=1Mσ^m2]]>表示均值和方差的平均值;

S5、求解判决变量G的近似概率分布,无论在H0假设下还是H1假设下,在M和K都较大时,判决变量G的分布都可用高斯分布来近似,所述判决变量G的高斯分布均值为μG=E[G]H1KE[σ^μ2]E[σ^2]H1K1Kσ2+σ02σ2=1+Kσ02σ2,]]>所述判决变量G的高斯分布方差为σG2=D[G]|H1K2{D[σ~2]D[σ~μ2](E[σ~2])4+D[σ~2](E[σ^μ2])2(E[σ^2])4+D[σ^μ2](E[σ^2])2}|H1{2N-M(1+Kσ02σ2)+(2M-1+4MKσ02σ2)},]]>其中,H0假设为yn=vn,n=1,2,3,...,N+1,H1假设为yn=vn+xn,n=1,2,3,...,N+1,vn为零均值高斯随机变量,方差为σ2,{xn}为一维混沌序列,满足f(xn)=xn+1,,D[·]表示方差,E[·]表示期望;

S6、根据给定虚警概率P0,确定判决门限对S1所述序列yn进行判决,若大于判决门限GGATE则为混沌序列,漏警概率为其中,μP和σP分别为判决变量的均值和标准差。

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