[发明专利]饭煲的可控硅的温度控制方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及电器领域，具体而言，涉及一种饭煲的可控硅的温度控制方法和装置。

背景技术

通常的饭煲采用继电器来控制发热盘的发热，在煮饭模式下，通过控制继电器不断的开关来控制发热盘提供的加热比。为考虑饭煲的使用寿命，现有的饭煲采用可控硅控制发热盘的发热，按照现有的饭煲煮饭的模式，在每个模式阶段都需要维持一段时间，并且在该维持的时间段内通过控制可控硅不断开关来控制发热盘提供一定的加热比。

由于在煮饭过程中需不断地对可控硅施加开关命令，造成可控硅温升较高(试验测试最高时可达110摄氏度)，使得PCB板环境温度较高，影响其他元器件(如电容，光耦等)使用寿命。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种饭煲的可控硅的温度控制方法和装置，以至少解决可控硅温度过高降低元器件寿命的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种饭煲的可控硅的温度控制方法，包括：在煮饭开始的吸水阶段时，开启所述可控硅以使所述饭煲的内容物升温；判断所述内容物的温度是否达到第一预设温度；在判断出所述内容物的温度达到所述第一预设温度时，关闭所述可控硅，在所述可控硅的关闭时间达到第一预设时间时进入加热阶段。

进一步地，在进入所述加热阶段后，所述方法还包括：开启所述可控硅以使所述内容物沸腾；判断所述内容物的温度是否大于等于第二预设温度；在判断出所述内容物的温度大于等于所述第二预设温度时，关闭所述可控硅第二预设时间后进入沸腾阶段。

进一步地，在进入所述沸腾阶段后，所述方法还包括：采用依次重复开关所述可控硅的方式控制所述饭煲的内容物升温，其中，每次开启所述可控硅的时间和关闭所述可控硅的时间均为第三预设时间；检测所述内容物的温度是否达到所述第三预设温度；在所述内容物的温度达到所述第三预设温度时，进入焖饭阶段；在所述内容物的温度未达到所述第三预设温度时，继续采用重复开关所述可控硅的方式控制所述内容物升温，直到所述内容物的温度达到所述第三预设温度。

进一步地，在进入所述焖饭阶段之后，所述方法还包括：采用控制所述可控硅依次重复开启和关闭的方式控制所述内容物处于第一预设温度范围，其中，在检测出所述内容物的温度达到所述第一预设温度范围的最高温度时，控制所述可控硅关闭，直到检测出所述内容物的温度达到所述第一预设温度范围的最低温度时，控制所述可控硅开启；判断所述内容物的温度处于所述第一预设温度范围的时间是否达到第四预设时间；在所述内容物的温度处于所述第一预设温度范围的时间达到所述第四预设时间时，进入保温阶段。

进一步地，在进入所述保温阶段之后，所述方法还包括：采用控制所述可控硅依次重复开启和关闭的方式控制所述内容物处于第二预设温度范围，其中，在检测出所述内容物的温度高于所述第二预设温度范围的最高温度时，控制所述可控硅关闭，直到检测出所述内容物的温度低于所述第二预设温度范围的最低温度时，控制所述可控硅开启；检测指示所述保温阶段结束的控制信号；在检测到所述控制信号、且所述可控硅处于开启状态时，关闭所述可控硅。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种饭煲的可控硅的温度控制装置，包括：第一开启单元，用于在煮饭开始的吸水阶段时，开启所述可控硅以使所述饭煲的内容物升温；第一判断单元，用于判断所述内容物的温度是否达到第一预设温度；第一关闭单元，用于在判断出所述内容物的温度达到所述第一预设温度时，关闭所述可控硅，在所述可控硅的关闭时间达到第一预设时间时进入加热阶段。

进一步地，所述装置还包括：第二开启单元，用于在进入所述加热阶段后，开启所述可控硅以使所述内容物沸腾；第二判断单元，用于判断所述内容物的温度是否大于等于第二预设温度；第二关闭单元，用于在判断出所述内容物的温度大于等于所述第二预设温度时，关闭所述可控硅第二预设时间后进入沸腾阶段。

进一步地，所述装置还包括：第一控制单元，用于在进入所述沸腾阶段后，采用控制所述可控硅控制依次重复开关的方式使所述饭煲的内容物升温，其中，每次开启所述可控硅的时间和关闭所述可控硅的时间均为第三预设时间；第一检测单元，用于检测所述内容物的温度是否达到所述第三预设温度；第二控制单元，用于在所述内容物的温度达到所述第三预设温度时，控制所述饭煲进入焖饭阶段；调用单元，用于在所述内容物的温度未达到所述第三预设温度时，调用所述第一控制单元，直到所述内容物的温度达到所述第三预设温度。