[发明专利]一种激光光束波前校正系统及方法在审
申请号: | 201510742513.4 | 申请日: | 2015-11-05 |
公开(公告)号: | CN105223688A | 公开(公告)日: | 2016-01-06 |
发明(设计)人: | 王德恩;代万俊;胡东霞;周维;张鑫;张晓璐;杨英;周凯南;薛峤;袁强;赵军普;孙立;粟敬钦;朱启华 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G02B26/06 | 分类号: | G02B26/06 |
代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 赵慧 |
地址: | 621900*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光 光束 校正 系统 方法 | ||
技术领域
本发明属于激光系统光束质量控制技术领域,具体而言涉及一种激光光束波前校正系统及方法。
背景技术
在激光器系统尤其是高功率固体激光系统中,为追求较高的光束质量,通常需要对波前畸变进行控制。传统的波前校正系统包含一套变形镜及高压驱动器、一套波前传感器,一套控制软件,为实现探测光路的像差标定,一般还需要一台单模光纤激光器作为标定光源。波前传感器常位于光束诊断包内,通过合理设计诊断光路实现光束口径、能量与哈特曼传感器之间的匹配,哈特曼的位置及单模光纤标定光源的位置决定了波前畸变校正的目标位置,通常情况下,在该位置到靶点之间仍存在一系列光学元件,将会引入像差,影响到靶焦斑的形态。
为实现靶点处的光束质量控制,可在靶点后搭建缩束光路,进行波前探测及闭环校正。该方法在小F数聚焦的激光系统(如超短脉冲激光装置)的应用中存在一定问题,比如空间局限、调试复杂及标定困难等。另外,由于靶点处光束口径较小,在进行动态波前测量时,由于功率密度较高,极易发生光学元件损伤的情况。
因此,传统的波前校正技术均无法较为精确、便捷的实现靶点处波前畸变的控制。
发明内容
为解决上述问题,本发明提供了一种激光光束波前校正系统及方法。
本发明提供如下技术方案:
一种激光光束波前校正系统,其包括主激光光路、变形镜及高压驱动、远场探测器、波前传感器、探测光路、控制电脑,其中:
所述主激光光路包括前级光路、传输光路,所述变形镜设置于波前传感器之前的主激光光路中,与控制电脑连接,作为波前校正器件校正波前误差;
所述前级光路与变形镜之间设置放大器,发射时将引入动态波前畸变;
所述远场探测器设置于变形镜后方激光光路的靶点位置,探测静态激光远场,并与控制电脑连接,形成变形镜、传输光路、远场探测器、控制电脑的闭环控制回路;
所述波前传感器设置于变形镜后,用于实现波前探测,并与控制电脑连接,形成变形镜、传输光路、探测光路、波前传感器、控制电脑的闭环控制回路。
进一步,所述波前传感器为哈特曼波前传感器。
进一步,所述波前传感器的探测面与变形镜的反射面共轭。
一种激光光束波前校正方法,远场探测器在靶点位置探测主激光焦斑,其携带了全部的静态波前信息,记为Ws;波前传感器采集主激光波前,所获得的波前信息记为Whs,包含了部分主光路及探测光路的波前畸变;当进行动态发射时,放大器会产生动态波前畸变,记为Wd;具体操作步骤如下:
S1:采用波前传感器采集主激光的波前Whs,并设置为参考,之后进行动态发射,利用波前传感器的单次采集模式,获取动态发射的主激光波前,此时波前传感器上得到的波前为纯动态波前(Whs+Wd)-Whs=Wd,记录此波前信息;
S2:待放大器完全冷却后,利用远场探测器,在靶点处采集主激光焦斑,采用远场信息反馈算法对焦斑进行闭环控制,当获得最佳焦斑时,变形镜产生的面形为-Ws;
S3:保持S2步骤中变形镜的面形不变,采用波前传感器对主激光进行波前采集,波前传感器上所获得的波前为Whs-Ws,记录所采集到的波前信息;
S4:以S3步骤中采集的波前Whs-Ws为参考,将变形镜的控制电压清零,再次采集主激光波前,波前传感器上得到的波前应为Whs-(Whs-Ws)=Ws,即光束至靶点的静态波前畸变;
S5:步骤S1与S4中获得了全光束的静态波前畸变及动态波前畸变,采用波前传感器采集主激光波前,并且设置为参考,再次采集主激光,获得的波前为0,控制电脑根据静态波前Ws、动态波前Wd信息,控制变形镜产生-(Ws+Wd)/2的面形,以补偿全系统像差。
本发明的有益效果如下:
第一:本系统将激光系统的静态及动态波前畸变分离,在靶点处以远场闭环替代波前闭环,巧妙避开了靶点位置的波前探测,降低了探测光路的复杂程度及调试难度。
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