[发明专利]用于校准电子倍增器中增益的系统和方法在审
申请号: | 201510750580.0 | 申请日: | 2015-11-06 |
公开(公告)号: | CN105590829A | 公开(公告)日: | 2016-05-18 |
发明(设计)人: | O·斯里弗拉;H·奥瑟;J·T·梅兹 | 申请(专利权)人: | 萨默费尼根有限公司 |
主分类号: | H01J49/10 | 分类号: | H01J49/10;H01J49/26;G01N27/62 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 姬利永 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 校准 电子倍增器 增益 系统 方法 | ||
1.一种操作质谱仪的方法,包括:
将一定量的离子供给至离子检测器,该离子检测器包括以第一极性 运行的转换倍增极和电子倍增器;
校准该电子倍增器的增益以确定第一组校准参数;
从该第一组校准参数计算用于该电子倍增器的第二组校准参数,该 第二组的校准参数是用于该转换倍增极的第二极性;
将该离子检测器配置成以基于该第二组校准参数的第二极性运行;
将该第二极性的离子供给至该质谱仪;并且
使用该离子检测器检测特定质荷比的离子。
2.如权利要求1所述的方法,进一步包括:当该离子检测器以该第二 极性运行时使用该第二组计算的校准参数作为起点校准该电子倍增器。
3.如权利要求1所述的方法,其中该第一极性为正极性并且该第二极 性为负极性。
4.如权利要求1所述的方法,其中该第一极性为负极性并且该第二极 性为正极性。
5.如权利要求1所述的方法,其中该第一组校准参数模拟该电子倍增 器的增益函数。
6.如权利要求1所述的方法,其中计算该第二组校准参数,以防止当 该离子检测器以该第二极性运行时该电子倍增器饱和或超载。
7.如权利要求1所述的方法,其中计算该第二组校准参数,以确保当 该离子检测器以该第二极性运行时离子信号对于稳定的离子检测和电子倍 增器校准是足够的。
8.如权利要求1所述的方法,其中计算该第二组校准参数,以触发当 该离子检测器以该第二极性运行时该电子倍增器的重新校准。
9.如权利要求1所述的方法,其中该第一极性中的校准电压的函数或 该第二极性中的计算的电压的函数、或电压偏移超过阈值触发将校准参数 重置到安全值。
10.一种质谱仪系统,包括:
配置为电离用于分析的样品的离子源;
配置为基于质荷比分离离子的质量分析器;
离子检测器,包括转换倍增极和电子倍增器,该离子检测器被配置 为检测来自该质量分析器的离子;以及
控制器,该控制器被配置为:
指示离子源将一定量的离子供给至该以第一极性运行的离子检 测器;
校准该电子倍增器的增益以确定第一组校准参数;
从该第一组校准参数计算该电子倍增器的第二组校准参数,该第 二组的校准参数是用于该转换倍增极的第二极性;
将该离子检测器配置成以基于该第二组校准参数的第二极性运 行;
将该第二极性的离子供给至该质谱仪;并且
使用该离子检测器检测多种离子。
11.如权利要求10所述的系统,其中该控制器进一步被配置为当该 离子检测器以该第二极性运行时使用该第二组计算的校准参数作为起点校 准该电子倍增器。
12.如权利要求10所述的系统,其中该第一组校准参数模拟该电子 倍增器的增益函数。
13.如权利要求10所述的系统,其中该第二组校准参数模拟该电子 倍增器的增益函数。
14.如权利要求10所述的系统,其中计算该第二组校准参数,以防 止当该离子检测器以该第二极性运行时该电子倍增器饱和或超载。
15.如权利要求10所述的系统,其中计算该第二组校准参数,以触 发当该离子检测器以该第二极性运行时该电子倍增器的重新校准。
16.如权利要求10所述的系统,其中该控制器还被配置为当该第一 极性中的校准电压中的函数、该第二极性中的计算的电压的函数、或电压 偏移超过阈值时,将校准参数重置为安全值。
17.如权利要求10所述的系统,其中可以计算该第二组校准参数, 以确保当该离子检测器以该第二极性运行时离子信号对于稳定的离子检测 和电子倍增器校准是足够的。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于萨默费尼根有限公司,未经萨默费尼根有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510750580.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:垫片晶体缺陷去除方法
- 下一篇:一种耐压型低压真空接触器