[发明专利]一种氮化镓二极管及其制备方法有效
申请号: | 201510751506.0 | 申请日: | 2015-11-06 |
公开(公告)号: | CN105321994B | 公开(公告)日: | 2018-08-17 |
发明(设计)人: | 张葶葶;李亦衡;王东盛;苗操;魏鸿源;严文胜;朱廷刚 | 申请(专利权)人: | 江苏能华微电子科技发展有限公司 |
主分类号: | H01L29/47 | 分类号: | H01L29/47;H01L29/872;H01L21/329 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 孙仿卫 |
地址: | 215600 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氮化 二极管 及其 制备 方法 | ||
本发明提供一种氮化镓二极管及其制备方法,该氮化镓二极管增加了阳极金属层与N型氮化镓层等半导体之间的肖特基势垒高度,从而降低金属‑半导体之间的漏电流。该氮化镓二极管,包括:衬底;N型氮化镓层,其形成于所述衬底的上表面上;P型氮化镓层,其形成于所述N型氮化镓层的上表面上;阳极金属层,其形成于所述P型氮化镓层的上表面上与所述P型氮化镓层形成肖特基接触。所述P型氮化镓层的厚度为5~200nm。
技术领域
本发明涉及一种氮化镓二极管及其制备方法。
背景技术
现有技术中的一种氮化镓二极管的结构如图1所示。结合图1所示,现有技术中,在衬底1(硅、蓝宝石、碳化硅)上生长N型氮化镓层2,在N型氮化镓层2上沉积相互隔离的阳极金属层3和阴极金属层5以构成二极管。上述结构的氮化镓二极管具有如下缺点:阳极金属与N型氮化镓层之间的肖特基势垒高度较低,阳极金属-半导体之间的反向漏电流较高。
发明内容
针对上述问题,本发明的目的是提供一种氮化镓二极管及其制备方法,该氮化镓二极管增加了阳极金属层与N型氮化镓层等半导体之间的肖特基势垒高度,从而降低金属-半导体之间的反向漏电流。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案为:
一种氮化镓二极管,包括:
衬底;
N型氮化镓层,其形成于所述衬底的上表面上;
P型氮化镓层,其形成于所述N型氮化镓层的上表面上;
阳极金属层,其形成于所述P型氮化镓层的上表面上与所述P型氮化镓层形成肖特基接触。
优选地,所述P型氮化镓层的厚度为5~200nm。
一种如上所述的氮化镓二极管的制备方法,所述N型氮化镓层和所述阳极金属层之间通过再生长或离子注入形成所述P型氮化镓层。
优选地,所述P型氮化镓层形成后进行退火。
本发明采用以上技术方案,相比现有技术具有如下优点:通过在阳极金属层和N型氮化镓层等半导体层之间插入一层P型氮化镓,增加了阳极金属层与N型氮化镓层等半导体之间的肖特基势垒高度,从而降低金属-半导体之间的反向漏电流,并提升反向击穿电压。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图,其中:
图1为现有技术中的一种氮化镓二极管的结构示意图;
图2为本发明的氮化镓二极管的结构示意图。
上述附图中,1、衬底;2、非掺杂氮化镓层;3、阳极金属层;4、P型氮化镓层;5、阴极金属层。
具体实施方式
下面对本发明的较佳实施例进行详细阐述,以使本发明的优点和特征能更易于被本领域的技术人员理解。
图2所示为本发明的一种氮化镓二极管。结合图2所示,它包括阴极金属层5以及自下至上依次层叠设置的衬底1、N型氮化镓层2、P型氮化镓层4、阳极金属层3,阳极金属层3与P型氮化镓层4形成肖特基接触,阴极金属层5沉积于N型氮化镓层2上且与P型氮化镓层4、阳极金属层3相隔离,即具有一段间距。其中,衬底1可选用硅、蓝宝石、碳化硅等。P型氮化镓层的厚度为5~200nm。
一种上述的氮化镓二极管的制备方法,N型氮化镓层2和阳极金属层3之间通过再生长或离子注入,并加以退火形成所述P型氮化镓层4。
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