[发明专利]导电性构件有效
申请号: | 201510752250.5 | 申请日: | 2012-03-21 |
公开(公告)号: | CN105259741B | 公开(公告)日: | 2017-11-07 |
发明(设计)人: | 村中则文;山田聪;山内一浩;都留诚司;村中由夏 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G03G15/02 | 分类号: | G03G15/02;G03G15/08;G03G15/16;C08L71/03 |
代理公司: | 北京魏启学律师事务所11398 | 代理人: | 魏启学 |
地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 导电性 构件 | ||
本申请是申请日为2012年3月21日、申请号为201280016672.0、发明名称为“导电性构件”的申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及用于电子照相图像形成设备的导电性构件。
背景技术
近年来,已要求电子照相设备的高寿命化。因此,目前还未感觉到其为问题的物理性质的微小变化由于长期使用,可能导致图像缺陷。特别是,其电阻值变化被当作导电性构件的高耐久性的重要因素。
作为其电阻值不均匀已得到缓和的此类导电性构件,已提出将包含通过添加离子导电剂至极性聚合物如醇(hydrin)橡胶以调整其电阻值而获得的导电层的导电性构件。然而,当使用离子导电剂时,因构件的长期使用,在导电层中离子导电剂可能不均匀分布(局部化)。对于前述的可能原因描述如下。在使用时,施加至导电性构件的直流电压的时间很长。另外,因为导电层反复接受应力,离子导电剂的离子交换基团经历离子离解,因此阴离子和阳离子在导电层中移动以使其不均匀分布。特别是,导电层中离子交换基团的不均匀分布增加了导电性构件的电阻值。
另外,长期施加直流电位至导电性构件和反复施加应力至导电层促使导电性构件的低分子量组分向导电层表面渗出。低分子量组分向导电层表面渗出导致感光构件表面污染。
为解决上述问题,在专利文献1中,使用即使当少量添加时也能降低电阻值的特定的季铵盐作为离子导电剂。另外,在专利文献2中,通过使用具有OH基的季铵盐抑制离子导电剂的渗出和喷霜。
引文列表
专利文献
专利文献1:日本专利申请特开2006-189894
专利文献2:日本专利申请特开2001-273815
发明内容
发明要解决的问题
然而,作为本发明的发明人进行根据专利文献1和专利文献2对本发明研究的结果,本发明人获知导电层中季铵离子和阴离子的移动和不均匀分布即使现在也是不可避免的,因此,本发明仍不足以解决该问题。鉴于前述,本发明旨在提供即使其长期使用后电阻值也几乎不变的导电性构件。
用于解决问题的方案
根据本发明的第一方面,提供一种导电性构件,其包含导电性支承体;和导电层,其中,所述导电层含有具有由下式(1)表示的单元的改性表氯醇橡胶和阴离子:
式(1)
在式(1)中,R1、R2和R3各自独立地表示氢或具有1至18个碳原子的饱和烃基。
根据本发明的第二方面,还提供一种处理盒,其可连接地/可拆卸地安装至电子照相设备的主体,所述处理盒包含上述导电性构件作为选自充电构件和显影构件的至少一种构件。根据本发明的第三方面,还提供一种电子照相设备,其包含上述的导电性构件作为选自充电构件和显影构件的至少一种构件。
发明的效果
根据本发明,提供一种因长期使用引起的电阻值变化尽可能降低的导电性构件。
附图说明
图1是根据本发明的导电性构件的截面图。
图2是十字头挤出机的示意图。
图3是测量导电性构件电阻的设备的示意图。
图4是根据本发明的电子照相设备的说明图。
图5是根据本发明的处理盒的说明图。
具体实施方式
图1是根据本发明的导电性构件的示意结构图。导电性支承体11的外周设置有导电层12。导电层12可具有包含两层以上的多层结构。
根据本发明的导电性构件在电子照相图像形成设备中可用作充电构件(充电辊)、显影构件(显影辊)、转印构件(转印辊)、抗静电构件或输送构件如给纸辊。另外,导电性构件适合用于稳定通电的导电性构件如充电刮板或转印垫(pad)。下文中,通过作为导电性构件的代表例的充电辊或显影辊等的方式来描述本发明。
<导电性支承体>
导电性支承体具有通过该支承体对充电辊表面给电的导电性。导电性支承体为例如,通过用镍镀制碳钢合金表面获得的具有约5μm厚度的圆柱形体。作为构成导电性支承体的任意其他材料的实例,可给出金属如铁、铝、钛、铜和镍,含有这些金属的合金如不锈钢、硬铝、黄铜、和青铜,和通过将炭黑或碳纤维与塑料硬化而获得的复合材料。此外,可使用为刚性且显示导电性的已知材料。另外,形状可为中心部分为中空的圆筒形,以及圆柱形。
<导电层>
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