[发明专利]缺陷检测的校验系统及校验方法

权利要求书

1.一种缺陷检测的校验系统，其特征在于，包括：

初始设定模块，用于设定各个样品的实际缺陷值；

数据输入模块，用于接收输入的各样品的测量缺陷值；

判定模块，用于将同一样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比，根据对比的结果确定正判、漏判和误判的样品数量；

计算模块，用于计算正判率、漏判率和误判率。

2.根据权利要求1所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，所述初始设定模块包括样品设定模块、传输模块和缺陷记录模块，其中，

所述样品设定模块用于接收设定的各样品名称；

所述传输模块用于接收外部检测机构所测得的各样品的实际缺陷值；

所述缺陷记录模块用于将所测得的实际缺陷值与样品一一对应记录。

3.根据权利要求2所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，所述数据输入模块包括姓名输入模块和缺陷输入模块，其中，

所述姓名输入模块用于接收输入检验人员的姓名；

所述缺陷输入模块用于接收输入的各样品的测量缺陷值，所述测量缺陷值与设定的样品名称一一对应。

4.根据权利要求1所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，还包括数据存储模块，所述数据存储模块用于统计并存储各样品的所述实际缺陷值，所述数据输入模块与所述数据存储模块电性连接，所述输入的各样品的测量缺陷值均从所述存储的所述实际缺陷值中进行不定项选择。

5.根据权利要求1所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，各样品的所述实际缺陷值和所述测量缺陷值均包括缺陷数量和与所述缺陷数量一一对应的缺陷种类；

所述判定模块包括正判模块、漏判模块和误判模块，其中，

所述正判模块，用于将各样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比，当样品的所述测量缺陷值和所述实际缺陷值的缺陷数量相等，且所述测量缺陷值和所述实际缺陷值的缺陷种类相同时，则为正判，并记录正判的样品数；

所述漏判模块，用于将各样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比，当样品的所述测量缺陷值的缺陷数量小于所述实际缺陷值的缺陷数量或当样品的所述测量缺陷值和所述实际缺陷值的缺陷数量相等，但所述实际缺陷值和所述测量缺陷值的缺陷种类部分不相同时，则为漏判，并记录漏判的样品数；

所述误判模块，将各样品中所述测量缺陷值与所述实际缺陷值进行对比，当样品的所述测量缺陷值的缺陷数量大于所述实际缺陷值的缺陷数量或当样品的所述测量缺陷值和所述实际缺陷值的缺陷数量相等，但所述实际缺陷值和所述测量缺陷值的缺陷种类全部不相同时，则为误判，并记录误判的样品数。

6.根据权利要求5所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，所述计算模块包括正判计算模块、漏判计算模块和误判计算模块，其中，

所述正判计算模块接收所述正判模块输出的正判的样品数，之后根据正判的样品数与样品总数之比计算获得正判率；

所述漏判计算模块接收所述漏判模块输出的漏判的样品数，之后根据漏判的样品数与样品总数之比计算获得漏判率；

所述误判计算模块接收所述误判模块输出的误判的样品数，之后根据误判的样品数与样品总数之比计算获得误判率。

7.根据权利要求6所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，还包括考核模块，所述考核模块根据预设正判率、预设漏判率和预设误判率确定检验人员缺陷检测是否合格，当正判率≥预设正判率，漏判率≤预设漏判率且误判率≤预设误判率时，则输出合格信息。

8.根据权利要求1所述的缺陷检测的校验系统，其特征在于，还包括显示模块，所述显示模块与所述判定模块电性连接，用于显示漏判或误判的样品的实际缺陷值。

9.一种缺陷检测的校验方法，特征在于，包括以下步骤：

初始设定模块设定各样品，并根据检测机构测得的各样品的缺陷值，确定各样品的实际缺陷值；

数据输入模块接收输入的姓名值和各样品的测量缺陷值；

判定模块将各样品的实际缺陷值和测量缺陷值进行对比，根据对比的结果确定正判、漏判和误判的样品数量；

计算模块根据正确判定的样品数量与样品总量之比计算确定正判率，根据漏判的样品数量与样品总量之比计算确定漏判率，根据误判的样品数量与样品总量之比计算确定误判率。