[发明专利]硅衬底悬空LED光波导集成光子器件及其制备方法有效
申请号: | 201510752581.9 | 申请日: | 2015-11-06 |
公开(公告)号: | CN105445854B | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | 王永进;朱桂遐;白丹;许银;朱洪波 | 申请(专利权)人: | 南京邮电大学 |
主分类号: | G02B6/122 | 分类号: | G02B6/122;G02B6/138;G02B6/132;G02B6/13 |
代理公司: | 江苏爱信律师事务所 32241 | 代理人: | 刘琦 |
地址: | 210003 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 衬底 悬空 led 波导 集成 光子 器件 及其 制备 方法 | ||
1.一种硅衬底悬空LED光波导集成光子器件,其特征在于,该光子器件以硅基氮化物晶片为载体,包括硅衬底层(1),设置在所述硅衬底层(1)上的外延缓冲层(2),设置在所述外延缓冲层(2)上的P-N结,所述P-N结包括从下至上依次连接设置的n-GaN层(3)、InGaN/GaN量子阱(4)和p-GaN层(5),所述p-GaN层(5)上设置有p-电极(6),在所述n-GaN层(3)上表面有刻蚀出的阶梯状台面,所述阶梯状台面包括一个上台面和位于上台面一侧的下台面,所述上台面与InGaN/GaN量子阱(4)的底面连接,所述下台面上设置有n-电极(7),所述n-GaN层(3)、InGaN/GaN量子阱(4)、p-GaN层(5)、p-电极(6)和n-电极(7)构成LED器件,所述LED器件上集成有光波导(8),在所述n-GaN层(3)下方设置有与p-电极(6)、n-电极(7)和光波导(8)的位置正对且贯穿硅衬底层(1)、外延缓冲层(2)的空腔,使得LED器件和光波导(8)悬空。
2.根据权利要求1所述的硅衬底悬空LED光波导集成光子器件,其特征在于,所述p-电极(6)由依次连接的p-电极发光区(9)、p-电极导电区(10)和p-电极引线区(11)组成;所述n-电极(7)由相互连接的n-电极导电区(12)和n-电极引线区(13)组成,所述空腔处于p-电极发光区(9)、p-电极导电区(10)、n-电极导电区(12)和光波导(8)的正下方。
3.根据权利要求1所述的硅衬底悬空LED光波导集成光子器件,其特征在于,所述LED器件和光波导(8)均在硅基氮化物晶片的氮化物层上实现,光波导(8)与n-GaN层(3)、InGaN/GaN量子阱(4)、p-GaN层(5)均连接。
4.根据权利要求3所述的硅衬底悬空LED光波导集成光子器件,其特征在于,所述LED器件上集成多个光波导(8)。
5.根据权利要求1、2、3或4所述的硅衬底悬空LED光波导集成光子器件,其特征在于,所述p-电极(6)和n-电极(7)均为Ni/Au电极,即沉积的金属材料为Ni/Au。
6.一种制备权利要求1、2、3、4或5所述硅衬底悬空LED光波导集成光子器件的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
步骤(1)在硅基氮化物晶片背后对硅衬底层(1)进行抛光减薄;
步骤(2)在硅基氮化物晶片上表面均匀涂上一层光刻胶,采用曝光技术在光刻胶层上定义出光波导区域和n-GaN台阶区域;
步骤(3)采用反应离子束刻蚀n-GaN台阶区域和光波导区域;
步骤(4)去除残余光刻胶,得到阶梯状台面、p-GaN层(5)、InGaN/GaN量子阱(4)和光波导(8);
步骤(5)在硅基氮化物晶片上表面均匀涂上一层光刻胶,光刻定义p-电极窗口区域与n-电极窗口区域,然后在所述p-电极窗口区域与n-电极窗口区域分别蒸镀Ni/Au,形成欧姆接触,实现p-电极(6)与n-电极(7),去除残余光刻胶后,即得到LED器件;
步骤(6)在硅基氮化物晶片顶层涂胶保护,防止刻蚀过程中损伤表面器件,在硅基氮化物晶片的硅衬底层(1)下表面旋涂一层光刻胶层,利用背后对准技术,定义出一个对准并完全覆盖p-电极区域中的导电区和发光区、n-电极区域中的导电区和光波导区的背后刻蚀窗口;
步骤(7)将外延缓冲层(2)作为刻蚀阻挡层,利用背后深硅刻蚀技术,通过背后刻蚀窗口将所述硅衬底层(1)贯穿刻蚀至外延缓冲层(2)的下表面,形成一个空腔;
步骤(8)采用氮化物背后减薄刻蚀技术,从下往上对外延缓冲层(2)和n-GaN层(3)进行氮化物减薄处理;
步骤(9)去除残余光刻胶,即获得硅衬底悬空LED光波导集成光子器件。
7.根据权利要求6所述的制备硅衬底悬空LED光波导集成光子器件的方法,其特征在于,所述步骤(5)中的蒸镀Ni/Au,采用剥离工艺和温度控制在500±5℃的氮气退火技术实现。
8.根据权利要求6所述的制备硅衬底悬空LED光波导集成光子器件的方法,其特征在于,所述步骤(8)中,所述氮化物背后减薄刻蚀技术为离子束轰击或反应离子束刻蚀技术。
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