[发明专利]温度检测电路及半导体装置

说明书

本发明题为温度检测电路及半导体装置。本发明提供检测温度的制造偏差少且能够简便地调整检测温度的制造偏差的温度检测电路。温度检测电路采用这样的结构，即具备：输出恒流的恒流电路；难过热敏元件输出的电压来进行控制并输出对应于温度的电流的电压控制电流电路；以及比较恒流和对应于温度的电流并输出表示检测到既定温度的检测信号的电流比较器，使恒流电路的温度特性和电压控制电流电路的温度特性具有相关，以比较恒流电路的输出电流和电压控制电流电路的输出电流的结果进行温度检测。

技术领域

本发明涉及用于过热保护电路等的温度检测电路。

背景技术

图6是示出现有的温度检测电路的结构例的电路图。

恒流电路108和二极管102和可变电阻113串联连接在电源端子10与接地端子11之间。二极管102的阳极与恒流电路108和P沟道晶体管111的栅极连接，阴极与可变电阻113连接。电阻109和电阻110串联连接在电源端子10与接地端子11之间。电阻109和电阻110的连接点与N沟道晶体管112的栅极连接。P沟道晶体管111的源极与电源端子10连接，漏极与输出端子12连接。N沟道晶体管112的漏极与输出端子12连接，源极与接地端子连接。

若温度上升，则二极管102两端的电压变小，P沟道晶体管111阈值电压（Vth）的绝对值变小。

因此，当温度变高时，P沟道晶体管111的阈值电压（Vth）和电源端子10与P沟道晶体管111的栅极端子间的电压会反转，从而P沟道晶体管111导通。因此，输出端子12的电压从接地端子11的电压反转到电源端子10的电压。

可变电阻113为调整温度检测电路的检测温度而将电阻值设定为适当的值。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2007－312529号公报。

发明内容

发明要解决的课题

然而，在现有的温度检测电路中，为了调整检测温度，需要在考虑P沟道晶体管111的阈值电压及其温度特性、恒流108的电流值及其温度特性和可变电阻113的温度特性的基础上，调整可变电阻的电阻值。

本发明为解决以上那样的课题而构思，用于实现能够简便地调整检测温度且精度良好的温度检测电路。

用于解决课题的方案

本发明的温度检测电路采用这样的结构，即，具备：恒流电路，输出恒流；电压控制电流电路，通过热敏元件输出的电压来控制并输出对应于温度的电流；以及电流比较器，比较恒流与对应于温度的电流并输出表示检测到既定温度的检测信号，使恒流电路的温度特性和电压控制电流电路的温度特性具有相关，以比较恒流电路的输出电流和电压控制电流电路的输出电流的结果进行温度检测。

发明效果

依据本发明的温度检测电路，作成使恒流电路的温度特性和通过热敏元件的电压来控制的电压控制电流电路的温度特性具有相关关系的电路，从而具有检测温度的制造偏差少且能够简便地进行对制造偏差的调整的效果。

附图说明

图1是示出本实施方式的温度检测电路的框图。

图2是示出本实施方式的温度检测电路的调整原理的图。

图3是示出本实施方式的温度检测电路的一个例子的电路图。

图4是示出本实施方式的温度检测电路的其他例子的电路图。

图5是示出本实施方式的温度检测电路的其他例子的电路图。

图6是示出现有的温度检测电路的图。