[发明专利]一种用于超声探头校准检测的机械装置有效

专利信息
申请号: 201510771766.4 申请日: 2015-11-12
公开(公告)号: CN105319279B 公开(公告)日: 2018-07-20
发明(设计)人: 汪月银 申请(专利权)人: 深圳市神视检验有限公司
主分类号: G01N29/30 分类号: G01N29/30
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 潘登;邓猛烈
地址: 518054 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 超声 探头 校准 检测 机械 装置
【权利要求书】:

1.一种用于超声探头校准检测的机械装置,包括标准试块,其特征在于:还包括设置在所述标准试块一侧壁的探头夹持装置、以及用于驱动所述探头夹持装置沿所述标准试块长度方向往返滑动的行走控制装置,所述探头夹持装置包括行走限位装置及用于探头耦合压力平衡的磁性调节装置,所述行走限位装置包括设置在探头夹持装置支架的左右两侧的限位轮,以及与所述限位轮相邻设置且用于行走限位装置和所述标准试块相吸的磁体,所述支架的左右两侧分别竖直设置轴杆,所述轴杆的两端分别穿设有上限位轮和下限位轮,所述上限位轮与所述标准试块的上边缘相卡接,所述下限位轮与所述标准试块的下边缘相卡接,所述上限位轮和下限位轮之间的轴杆上穿设有用于调节上限位轮和下限位轮之间间距的间距调节结构,所述间距调节结构与设置在轴杆一侧支架上的卡板相配合。

2.根据权利要求1所述的一种用于超声探头校准检测的机械装置,其特征在于:所述间距调节结构包括与所述上限位轮相连接的上卡套,以及与所述下限位轮相连接的下卡套,所述上卡套和所述下卡套的外圆周面分别均布有若干个环形凹槽,所述环形凹槽与所述卡板的侧壁相卡接。

3.根据权利要求1所述的一种用于超声探头校准检测的机械装置,其特征在于:所述磁性调节装置包括设置在所述支架中部且与所述支架内侧壁间隙配合的探头固定架、设置在所述支架中部外侧壁的滑动导向结构、以及设置在所述探头固定架顶部与所述支架顶部之间用于两者相反运动的磁性相斥结构,所述滑动导向结构的滑杆与外延于所述支架外壁的探头固定架的端部相连接。

4.根据权利要求3所述的一种用于超声探头校准检测的机械装置,其特征在于:所述磁性相斥结构包括设置在所述探头固定架顶部的第一磁体、与所述支架顶部螺纹孔相配合的丝杆,设置在所述丝杆下端面的第二磁体,所述第二磁体与所述第一磁体相对面磁极相反且上下对齐设置。

5.根据权利要求3所述的一种用于超声探头校准检测的机械装置,其特征在于:所述探头固定架的两内侧壁之间枢接有探头。

6.根据权利要求3所述的一种用于超声探头校准检测的机械装置,其特征在于:所述行走控制装置包括沿标准试块长度方向设置的滑轨、设置在所述滑轨两端用于和所述标准试块的两端相夹持的夹紧结构、设置在所述滑轨一侧用于驱动设置在所述滑轨上的滑块往返运动的手动传动结构、以及设置在所述滑轨下方与所述标准试块相吸的磁铁,所述滑块与所述探头夹持装置的支架相连接。

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