[发明专利]一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法

权利要求书

1.一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法，其特征在于包括以下步 骤：

步骤一，收集待测物的capID值和频偏值的分布数据，组成一个capID值 -频偏值对应表；表中记录同一个capID值对应的不同待测物的频偏值，绘 制出偏频特征曲线；

步骤二，分析出频偏值在标准范围内使用频率最多的capID值作为基础 capID值；

步骤三，将基础capID值作为当前使用的capID值发射信号得到的频偏值 F,参照偏频的特征曲线，如果频偏值F在标准范围内则频偏校准完成，如 果不在标准范围内则在特征曲线中找出与频偏值F最接近的频偏值所对应的 capID差值；

步骤四，在基础capID值的基础上减去capID差值得到新的capID；

步骤五，将新的值capID作为当前使用的capID值重复发射信号得到的频 偏值F,直到将频偏值F调整到标准范围内为止，频偏校准完成。

2.根据权利要求1所述的一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法， 其特征在于：所述偏频特征曲线获取方法是：

随机找出n片待测物样品，设定为DUT1～DUTn；

对每一片样品，使用capID的可用整数范围内的每一个整数作为capID进 行频偏量测，然后将数据整理成表格；

对每一片样品的capID值-频偏值数据进行平移，找出频偏值最接近0的cap ID，将所有的capID都减去所述最接近0的capID，得到的值作为capID 差值；

以capID差值和频偏值构成一个新的数据表格，以capID差值为横坐标， 频偏值为纵坐标，构成一个待测物的特征曲线；

对每一个待测物都构建其特征曲线；

对所有的特征曲线以capID差值为单位求取所有对应频偏值的平均值，将 此平均值作为所有样本的特征曲线的频偏值；

所有的capID差值及其对应的频偏平均值构成了校准所需的偏频特征曲线。

3.根据权利要求1所述的一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法， 其特征在于：在分析频偏值在标准范围内使用频率最多的capID值作为基 础capID值时，如果有多个capID值出现的次数相同，则选择与这些capID 值的平均值最接近的一个。

4.根据权利要求1所述的一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法， 其特征在于：所述步骤三种，如果不在标准范围内则在特征曲线中找出与频 偏值F最接近的频偏值所对应的capID差值，具体是找出与频偏值F最接 近的特征频偏值Ft，在通过特征频偏值Ft得出对应的capID差值。

5.根据权利要求1所述的一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法， 其特征在于：频偏校准完成后，将频偏值F在标准范围内时，作为当前使用 的capID值写入非易失随机存取存储器中，并将当前使用的capID值和频 偏值F记录到数据容器中。