[发明专利]基于方向场全局信息的指纹伪核点检测方法有效
申请号: | 201510783669.7 | 申请日: | 2015-11-16 |
公开(公告)号: | CN105389563B | 公开(公告)日: | 2018-08-10 |
发明(设计)人: | 叶学义;刘一锐;王秋华;夏经文;汪云路 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
代理公司: | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 杜军 |
地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 方向 全局 信息 指纹 伪核点 检测 方法 | ||
1.基于方向场全局信息的指纹伪核点检测方法,其特征在于包括如下步骤:
步骤1、用梯度法求出指纹图像的像素级方向场O;
步骤2、用庞加莱索引法在方向场O中提取出每一个粗核点位置Ci(cxi,cyi);
步骤3、用短时傅里叶变换法进行指纹分割,求出指纹的前景区域I;
步骤4、用现有算法计算出粗核点开口方向的幅角主值θi;
步骤5、根据粗核点位置Ci(cxi,cyi)和对应的核点开口方向的幅角主值θi以及指纹的前景区域I,求出对应的判别区域Ai;
步骤6、根据Ai区域内的方向场和粗核点的开口方向的幅角主值θi,求出对应的判别特征Fcore;
步骤7、计算出每一个粗核点Ci(cxi,cyi)对应的判别特征Fcore,将Fcore<1的粗核点判为伪核点并去除,得到最终的结果;
步骤5所述的判别区域Ai的求取,具体如下:
其中表示幅角为θi+π的单位向量,P(x,y)为待求的Ai区域内任一点,表示起点为Ci(cxi,cyi)终点为P(x,y)的向量;所有位于前景I并且满足公式3的点P(x,y)的集合即为所求的判别区域Ai;
步骤6所述的判别特征Fcore的求取,具体如下:
其中αi(x,y)表示方向场O中Ai区域的元素值,β(x,y)是一个中间变量,表示粗核点的开口方向的幅角主值θi同αi(x,y)的夹角,size(Ai)表示方向场O中Ai区域的元素的总个数;所有的角度都采用弧度制。
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