[发明专利]一种用于CT扫描剂量调制的方法及装置有效
| 申请号： | 201510785038.9 | 申请日： | 2015-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN105249984B | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 楼珊珊;任亮;逄岭 | 申请（专利权）人： | 东软医疗系统股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 110179 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 扫描序列 被检体 剂量调制 扫描断面 位置处 脚部 部分相同 螺旋序列 扫描部位 数据获取 衰减信息 头部延伸 断层 垂直 扫描 延伸 | ||
1.一种用于CT扫描剂量调制的方法，其特征在于，包括：
根据被检体的已扫描序列数据获取计划扫描序列中各Z位置的XY扫描断面在不同投影位置下的衰减信息，并
根据所述衰减信息调制所述计划扫描序列中各Z位置的XY扫描断面在不同投影位置下的扫描剂量；
其中，所述Z位置为Z方向上的一个位置，所述Z方向为从被检体的头部向脚部延伸的方向或从被检体的脚部向头部延伸的方向，所述Z位置的XY扫描断面为在所述Z位置处垂直于所述Z方向的被检体断面；
若所述计划扫描序列超出所述已扫描序列并且所述计划扫描序列的平片数据在Z方向上没有突变，则获取重叠序列中不同Z位置的XY扫描断面的形状比例信息，其中，所述重叠序列为所述计划扫描序列与所述已扫描序列的重叠部分；
根据所述形状比例信息判断所述重叠序列中不同Z位置的XY扫描断面的形状比例是否相似；
若判断为相似，则继续根据所述衰减信息调制所述计划扫描序列中各Z位置的XY扫描断面在不同投影位置下的扫描剂量。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述计划扫描序列未超出所述已扫描序列，则
所述根据被检体的已扫描序列数据获取计划扫描序列中各Z位置的XY扫描断面在不同投影位置下的衰减信息，包括：从所述已扫描序列数据获取所述计划扫描序列中各Z位置在不同投影位置下的最大衰减值，并
根据所述衰减信息调制所述计划扫描序列中各Z位置的XY扫描断面在不同投影位置下的扫描剂量，包括：按照下述公式计算所述计划扫描序列中任一Z位置zi的XY扫描断面在任一投影位置下的扫描剂量：
其中，Imod,zi,j是该Z位置zi的XY扫描断面在第j个投影位置下的扫描剂量；
Imod,zi,start是该Z位置zi对应的初始扫描剂量值；
M是投影位置的个数；
j是不同投影位置的序号；
Amax,zi,j是根据所述已扫描序列的数据获取到的该Z位置zi的XY扫描断面在第j个投影位置下的最大衰减值。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据被检体的已扫描序列数据获取计划扫描序列中各Z位置的XY扫描断面在不同投影位置下的衰减信息，包括：
从所述已扫描序列的数据获取所述重叠序列中各Z位置的XY扫描断面在不同投影位置下的最大衰减值；以及
利用以下公式计算所述计划扫描序列中不包括在所述重叠序列内的各Z位置zout的XY扫描断面在不同投影位置下的最大衰减值：
其中，Amax,zout,j是所述Z位置zout的XY扫描断面在第j个投影位置下的最大衰减值；
Amax,zout-1,j是与所述Z位置zout最接近的Z位置zout-1的XY扫描断面在第j个投影位置下的最大衰减值；
PAmax,zout是根据预先获得的平片数据所确定的所述Z位置zout的XY扫描断面在平片扫描时的最大衰减值；
PAmax,zout-1是根据预先获得的平片数据所确定的所述Z位置zout-1的XY扫描断面在平片扫描时的最大衰减值。
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