[发明专利]采样率按2的任意幂次可重构的光学模数转换装置在审

专利信息
申请号: 201510785573.4 申请日: 2015-11-16
公开(公告)号: CN105319798A 公开(公告)日: 2016-02-10
发明(设计)人: 邹卫文;杨光;陈建平 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G02F7/00 分类号: G02F7/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张宁展
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 采样率 任意 幂次可重构 光学 转换 装置
【权利要求书】:

1.一种采样率按2的任意幂次可重构的光学模数转换装置,其特征在于,包括依次连接的脉冲激光器(1)、可重构重复频率倍增模块(2)、电光信号采样模块(3)和可重构信号量化及重建模块(4),以及分别与所述的可重构重复频率倍增模块(2)、可重构信号量化及重建模块(4)相连的工作状态控制模块(5)。

2.根据权利要求1所述的采样率按2的任意幂次可重构的光学模数转换装置,其特征在于,所述的可重构重复频率倍增模块(2)包括一个1×2N通道的第一复用器(2-1),该第一复用器(2-1)的各输出端分别经第一开关装置(2-2)和通道匹配模块(2-3)与一个2N×1通道的解复用器(2-4)的各输入端连接;

所述的电光信号采样模块(3)为电光调制器(3-1),该电光调制器(3-1)的输入端与所述的解复用器(2-4)的输出端相连;

所述的可重构信号量化及重建模块(4)包括一个1×2N通道的第二复用器(4-1),该第二复用器(4-1)的输入端与电光调制器(3-1)的输出端相连,该二复用器(4-1)的各输出端分别经第二开关装置(4-2)、光电探测器(4-3)和电模数转换器(EADC)(4-4)与数据处理单元(4-5)的各输入端相连;

所述的工作状态控制模块(5)分别与所述的第一开关装置(2-2)和第二开关装置(4-2)相连。

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