[发明专利]图像传感器、应用处理器和处理坏像素的方法有效

专利信息
申请号: 201510791452.0 申请日: 2015-11-17
公开(公告)号: CN105611195B 公开(公告)日: 2020-06-23
发明(设计)人: 赵镛性 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H04N5/367 分类号: H04N5/367
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 韩明星;刘灿强
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 图像传感器 应用 处理器 处理 像素 方法
【说明书】:

本发明提供一种图像传感器、应用处理器和处理坏像素的方法。该方法包括:确定代表至少一个坏像素的代表性像素是否被包括在核中,当代表性像素被包括在核中时,确定第一像素是否为坏像素,以及当第一像素被确定为坏像素时,使用核中的第二像素来补偿第一像素。所述核在核的中心处具有第一像素。

本申请要求于2014年11月17日在韩国知识产权局提交的第10-2014-0160322号韩国专利申请的优先权,该韩国专利申请的公开内容通过引用全部包含于此。

技术领域

本发明构思的实施例涉及一种从由图像传感器检测的像素图像去除坏像素的方法,更具体地,涉及一种使用该方法的图像传感器和一种使用该方法的应用处理器。

背景技术

图像传感器的像素阵列可以包括将从物体拍摄的图像转换为电信号的多个像素。多个像素可以包括不能正常工作的坏像素。

识别并补偿坏像素的后图像处理将提高质量和性能。

发明内容

根据本发明构思的实施例,提供了一种从像素图像去除坏像素的方法。该方法包括:确定代表至少一个坏像素的代表性像素是否被包括在核中,当代表性像素被包括在核中时确定第一像素是否为坏像素,当第一像素被确定为坏像素时,利用核中的第二像素来补偿第一像素。所述核在核的中心处具有第一像素。

该方法还可以包括,当代表性像素被包括在核中时调整核的第一像素范围。

确定代表性像素是否被包括在核中的步骤可以包括,将第一像素的坐标与代表性像素的坐标进行比较,基于比较结果计算水平偏移和竖直偏移,并且确定水平偏移和竖直偏移是否在与核的大小对应的预定值内。水平偏移可以是第一像素与代表性像素之间在第一方向上的距离。竖直偏移可以是第一像素与代表性像素之间在与第一方向垂直的第二方向上的距离。

该方法还可以包括存储关于代表性像素的信息。

关于代表性像素的信息可以包括代表性像素的坐标或者与代表性像素相邻的坏像素的数量。

核的大小可以为5×5。

根据本发明构思的实施例,提供了一种图像传感器。图像传感器包括图像生成单元和坏像素处理单元。图像生成单元被配置为生成与入射光的强度对应的像素图像。坏像素处理单元被配置为检测坏像素,并且输出补偿后的像素图像。坏像素处理单元包括坏像素检测单元和坏像素补偿单元。坏像素检测单元被配置为确定代表至少一个坏像素的代表性像素是否被包括在核中,并且当代表性像素被包括在核中时确定第一像素是否为坏像素。坏像素补偿单元被配置为当第一像素被确定为坏像素时,使用核中的第二像素来补偿第一像素。所述核在核的中心处具有第一像素。

当代表性像素被包括在核中时,坏像素检测单元可以调整核的第一像素范围。

坏像素检测单元可以将第一像素的坐标与代表性像素的坐标进行比较,基于比较结果计算水平偏移和竖直偏移,并且确定水平偏移和竖直偏移是否在与核的大小对应的预定值内。水平偏移可以是第一像素与代表性像素之间在第一方向上的距离。竖直偏移可以是第一像素与代表性像素之间在与第一方向垂直的第二方向上的距离。

坏像素处理单元还可以包括被配置为存储关于代表性像素的信息的坏像素存储器。

关于代表性像素的信息可以包括代表性像素的坐标或者与代表性像素相邻的坏像素的数量。

核的大小可以为5×5。

当代表性像素不被包括在核中时,坏像素检测单元可以将第一像素输出为补偿后的像素图像。

图像生成单元可以包括像素阵列、读出块和控制单元。像素阵列可以包括多个像素,每个像素被配置为生成根据入射光的强度变化的电信号。读出块可以被配置为将电信号转换为数字格式的像素图像。控制单元可以被配置为控制像素阵列和读出块。

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