[发明专利]具有自适应功率调整的测试装置与测试方法有效
申请号: | 201510797008.X | 申请日: | 2015-11-18 |
公开(公告)号: | CN105259491B | 公开(公告)日: | 2018-07-20 |
发明(设计)人: | 王鹏 | 申请(专利权)人: | 上海兆芯集成电路有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R21/00 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 张瑾 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 自适应 功率 调整 测试 装置 方法 | ||
1.一种具有自适应功率调整的测试方法,其特征在于,包括:
电性连接待测元件与具有自适应功率调整的自动测试主机,该自动测试主机包括时钟信号发生器,用于产生时钟信号;
该自动测试主机向该待测元件提供时钟信号与测试数据以进行测试;
监控该待测元件的功率;
当该待测元件的该功率大于等于预定功率时,该自动测试主机使得该待测元件无法接收该时钟信号;以及
当该待测元件的该功率小于该预定功率时,该自动测试主机维持输出该时钟信号给该待测元件。
2.根据权利要求1所述的具有自适应功率调整的测试方法,其特征在于,其中该待测元件还包括自我监控装置,以监控该待测元件的该功率,并将该功率传送给该自动测试主机。
3.根据权利要求1所述的具有自适应功率调整的测试方法,其特征在于,其中该自动测试主机还包括功率监控装置,以监控该待测元件的该功率。
4.根据权利要求1所述的具有自适应功率调整的测试方法,其特征在于,其中该自动测试主机还输出控制信号给该待测元件,当该控制信号的逻辑电位由第一逻辑电位变成第二逻辑电位时,该待测元件无法接收该时钟信号。
5.一种具有自适应功率调整的测试装置,用以测试待测元件,其特征在于,包括:
处理器,所述处理器向该待测元件传送测试数据与控制信号;
时钟信号发生器,所述时钟信号发生器向该待测元件输出时钟信号;以及
功率监控装置,用以监控该待测元件的功率,其中
当该待测元件的该功率大于等于预定功率时,该处理器使得该待测元件无法接收该时钟信号,
当该待测元件的该功率小于该预定功率时,该时钟信号发生器维持输出该时钟信号给该待测元件。
6.根据权利要求5所述的具有自适应功率调整的测试装置,其特征在于,其中该测试数据由外部输入。
7.根据权利要求5所述的具有自适应功率调整的测试装置,其特征在于,还包括测试数据库,该处理器根据该待测元件的信息自该测试数据库中选择该测试数据。
8.根据权利要求5所述的具有自适应功率调整的测试装置,其特征在于,其中当该待测元件的该功率大于等于该预定功率时,该控制信号的逻辑电位由第一逻辑电位变成第二逻辑电位时,所述控制信号使得该待测元件无法接收该时钟信号。
9.根据权利要求5所述的具有自适应功率调整的测试装置,其特征在于,其中当该待测元件的该功率小于该预定功率一段时间后,该控制信号的逻辑电位由第二逻辑电位变成第一逻辑电位时,使得该待测元件再次接收该时钟信号。
10.根据权利要求5所述的具有自适应功率调整的测试装置,其特征在于,该时钟信号为第一时钟信号,当待测元件的该功率大于等于预定功率时,该处理器控制该时钟信号发生器产生并传送第二时钟信号给该待测元件,其中该第二时钟信号的频率低于该第一时钟信号的频率。
11.一种测试系统,其特征在于,包括:
待测元件,该待测元件具有自我监控装置,以监控该待测元件的功率;以及
具有自适应功率调整的测试装置,包括:
处理器,接收该待测元件输出的该功率,且传送测试数据与控制信号给该待测元件;以及
时钟信号发生器,输出时钟信号给该待测元件;
其中当待测元件的该功率大于等于预定功率时,该处理器使得该待测元件无法接收该时钟信号,
当待测元件的该功率小于该预定功率时,该时钟信号发生器维持输出该时钟信号给该待测元件。
12.根据权利要求11所述的测试系统,其特征在于,其中该测试数据由外部输入,或该处理器根据该待测元件的信息自测试数据库中选择该测试数据。
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