[发明专利]一种基于膜富集-紫外可见漫反射光谱的痕量重金属离子测定方法在审
| 申请号： | 201510800259.9 | 申请日： | 2015-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN105466863A | 公开（公告）日： | 2016-04-06 |
| 发明（设计）人： | 卞希慧;陈曼婷;赵贺;郭玉高;谭小耀 | 申请（专利权）人： | 天津工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300160*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 富集 紫外 可见 漫反射 光谱 痕量 重金属 离子 测定 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于膜富集-紫外可见漫反射光谱的痕量重金属离子测定方法，其特征在于：膜富集-紫外可见漫反射用于重金属痕量检测的实验条件探讨；建模样品数据集的测量；采用化学计量学方法进行建模与预测。
2.根据权利要求1所述的一种基于膜富集-紫外可见漫反射光谱的痕量重金属离子测定方法，其特征在于：膜富集-紫外可见漫反射用于重金属痕量检测的实验条件探讨的具体过程为选取三种常见的重金属离子作为研究对象，考察不同络合剂的络合效果以及在膜上的富集后的光谱强度，选择合适的络合剂作为被测重金属离子的络合剂，在最佳条件下，与金属离子络合后，形成有色疏水络合物，通过过滤的方式实现在混合纤维素滤膜上的定量富集，利用漫反射模式直接对金属离子富集后的滤膜进行光谱测量。
3.根据权利要求1所述的一种基于膜富集-紫外可见漫反射光谱的痕量重金属离子测定方法，其特征在于：化学计量学方法进行建模与预测的具体过程为采用偏最小二乘回归方法建立模型，如果模型性能较好，直接采用偏最小二乘模型进行建模；如果模型预测性能不好，则考察不同预处理方法以及变量选择方法及其联合对光谱处理效果，选取最佳预处理方法对数据处理后，再建立偏最小二乘回归模型。
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