[发明专利]光传感器的性能检测方法和医学成像设备

权利要求书

1.一种光传感器的性能检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

利用表现出至少一个特征辐射的固有放射性的闪烁元件产生本底辐射，所述闪烁元件响应于所述本底辐射产生闪烁光；

利用光传感器产生与所述闪烁光的光量相应的脉冲状电信号；

根据来自所述光传感器的电信号生成单事件数据，累积获取所述光传感器上的单事件计数，所述光传感器上的单事件计数包括单事件计数率，所述单事件计数率为每个光传感器上生成的单事件数据与所有光传感器上的单事件数据之和的对比；

将所述光传感器上的单事件计数与预设阈值比较，确定所述光传感器的性能是否符合要求包括：

判断所述光传感器上的单事件计数率是否在预设阈值范围内；

若是，判定所述光传感器的性能符合要求；

若否，判定所述光传感器的性能不符合要求。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光传感器为硅光电倍增管或雪崩二极管中的一种。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述闪烁元件包括含镥化合物。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述光传感器的性能不符合要求，则记录该光传感器的位置。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述光传感器的性能不符合要求，则对所述光传感器进行校准。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，通过语音播放或界面显示的方式，将所述光传感器的性能检测结果通知给用户。

7.一种医学成像设备，其特征在于，包括：

表现出至少一个特征辐射的固有放射性的闪烁元件，所述闪烁元件产生本底辐射，并响应于所述本底辐射产生闪烁光；

与所述闪烁元件连接的光传感器，所述光传感器产生与所述闪烁光的光量相应的脉冲状电信号；

信号处理部，用于根据来自所述光传感器的电信号生成单事件数据，并累积获取所述光传感器上的单事件计数，所述光传感器上的单事件计数包括单事件计数率，所述单事件计数率为每个光传感器上生成的单事件数据与所有光传感器上的单事件数据之和的对比；

性能检测部，用于将所述光传感器上的单事件计数与预设阈值比较，确定所述光传感器的性能是否符合要求包括：判断所述光传感器上的单事件计数率是否在预设阈值范围内；若是，判定所述光传感器的性能符合要求；若否，判定所述光传感器的性能不符合要求。