[发明专利]一种基于连续光源的体散射函数剖面仪辐射定标系统有效
申请号: | 201510805675.8 | 申请日: | 2015-11-20 |
公开(公告)号: | CN105466890B | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 李彩;柯天存;曹文熙;杨跃忠 | 申请(专利权)人: | 中国科学院南海海洋研究所 |
主分类号: | G01N21/49 | 分类号: | G01N21/49 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 陈卫 |
地址: | 510301 *** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 连续光源 辐射定标 脉冲光 输出控制装置 频率可控 散射函数 剖面仪 探头 辐射 接收脉冲 定标 调制 两边 输出 | ||
本发明涉及体散射函数剖面仪辐射定标技术领域,更具体地,涉及一种基于连续光源的体散射函数剖面仪辐射定标系统,包括频率可控脉冲光输出控制装置及分别设置在所述频率可控脉冲光输出控制装置两边的连续光源及辐射探头;连续光源发出的光通过频率可控脉冲光输出控制装置的调制后变成脉冲光输出并被辐射探头接收用于辐射定标。本发明结构简单,适合于在只有连续光源的情况下对只接收脉冲光的辐射探头进行定标。
技术领域
本发明涉及体散射函数剖面仪辐射定标技术领域,更具体地,涉及一种基于连续光源的体散射函数剖面仪辐射定标系统。
背景技术
目前,水体体散射函数测量技术相对较为匮乏,这主要归因于体散射函数测量较为困难,水体散射的特殊方向性,不同方向散射光信号动态范围较大,且某些角度微弱光散射信号的测量特别容易受到外界杂散光的干扰。实际研究发现,通过光源调制、接收端解调的办法可以有效地避免背景光对散射光信号的干扰,因此,如何在只有连续光源的条件下,对散射光辐射探头进行光辐射定标是体散射函数测量仪研制过程中必须考虑的一个关键技术难题。
发明内容
鉴于此,本发明旨在提供一种基于连续光源的体散射函数剖面仪辐射定标系统,其结构简单,并且可以在只有连续光源的情况下对辐射探头进行定标。
为达到上述目的,本发明采用的技术方案是:
提供一种基于连续光源的体散射函数剖面仪辐射定标系统,包括频率可控脉冲光输出控制装置及分别设置在所述频率可控脉冲光输出控制装置两边的连续光源及辐射探头;连续光源发出的光通过频率可控脉冲光输出控制装置的调制后变成脉冲光输出并被辐射探头接收用于辐射定标;所述频率可控脉冲光输出控制装置包括步进电机、通光转盘、出光光阑盘、通光计数盘、光耦固定板及槽型光耦;所述通光转盘及通光计数盘分别安装在步进电机的转轴的下端及上端并随步进电机的转轴同步旋转;通光转盘上均匀设有若干个透光孔,且所有透光孔的中心位于距离通光转盘中心一定距离的圆周上,通光计数盘的边缘上均匀开设相同数量的透光槽;所述出光光阑盘固定在步进电机的下端面上用于遮挡通光转盘,出光光阑盘上设有一个光阑出口,光阑出口的形状与透光孔的形状相同,且两者距离步进电机的转轴的距离相同;所述光耦固定板固定在步进电机的上端面上,槽型光耦固定在光耦固定板上,通光计数盘的边缘深入槽型光耦的上、下感光面之间。
上述方案中,通过步进电机的转动带动通光转盘及通光计数盘转动,当位于通光转盘上的透光孔与出光光阑盘上的光阑出口相交时,槽型光耦将接收到通光信号,与此同时,连续光源发出的光束通过光阑出口输出,通过控制步进电机的转速,即可得到频率可控的脉冲光,辐射探头接收此脉冲光以用于辐射定标。本发明结构简单,拆卸方便,并且可以在只有连续光源的情况下对只接收脉冲光的辐射探头进行定标。
优选地,该辐射定标系统还包括三个光具座及一个光学导轨,所述连续光源、频率可控脉冲光输出控制装置及辐射探头分别固定在三个光具座上,三个光具座固定安装在光学导轨上。光具座及光学导轨的设置便于该辐射定标系统的安装、调试与拆卸,给用户带来便利。
优选地,为了便于调节连续光源、频率可控脉冲光输出控制装置及辐射探头的高度,将三个光具座的高度设置成可调的。
优选地,该辐射定标系统还包括与槽型光耦连接的频率计数器。
优选地,为了避免因感光不到造成的通光计数盘转动圈数的统计错误,透光槽置于槽型光耦的上、下感光面之间时,槽型光耦完全感光。
优选地,所述通光转盘、出光光阑盘、通光计数盘、光阑出口及透光孔均为圆形。
优选地,所述出光光阑盘的边缘上设有一定高度的遮光台,且所述通光转盘与所述出光光阑盘之间的距离小于所述遮光台的高度;所述出光光阑盘的半径大于所述通光转盘的半径。这样设置可以进一步地避免杂散光对出射光的干扰,有助于获得更加准确的辐射定标结果。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院南海海洋研究所,未经中国科学院南海海洋研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510805675.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。