[发明专利]面向字的内存测试方法

权利要求书

1.一种面向字的内存测试方法，其特征在于，包括：

针对不同的待测内存错误类型，根据内存芯片位宽各自生成内存测试模型序列；

利用生成的各所述内存测试模型序列进行内存测试。

2.根据权利要求1所述的内存测试方法，其特征在于，所述针对不同的待测内存错误类 型，根据操作位宽各自生成内存测试模型序列包括：

根据所述待测内存错误类型，生成最简闭环双位测试序列；

根据所述内存芯片位宽生成基础模型序列；

将所述最简闭环双位测试序列导入至所述基础模型序列中，得到所述内存测试模型序 列。

3.根据权利要求2所述的内存测试方法，其特征在于，所述根据所述待测内存错误类 型，生成最简闭环双位测试序列包括：

根据所述待测内存错误类型，列举测试中需要覆盖的错误状态；

列举双位00、01、10、11四种状态两两组合产生的所述错误状态的集合；

精简所述错误状态的集合中冗余的错误状态，得到包含所有需要覆盖的错误状态的最 简闭环双位测试序列。

4.根据权利要求2-3任一项所述的内存测试方法，其特征在于，所述待测内存错误类型 为耦合故障，至少包括倒置耦合故障、固化耦合故障、干扰耦合故障和状态耦合故障。

5.根据权利要求1-3任一项所述的内存测试方法，其特征在于，所述内存芯片位宽为4 位或8位。

6.根据权利要求3所述的内存测试方法，其特征在于，当所述待测内存错误类型为固化 耦合故障时，所述需要覆盖的错误状态为(变化位状态的改变趋势，变化位状态的改变导致 的关联位状态的错误变化趋势)，具体包括(c0升，c1升)、(c0升，c1降)、(c0降，c1升)、(c0 降，c1降)、(c1升，c0升)、(c1升，c0降)、(c1降，c0升)和(c1降，c0降)；

其中c0为所述双位中的前一位，c1为所述双位中的后一位。

7.根据权利要求6所述的内存测试方法，其特征在于，精简冗余的错误状态后得到的最 简闭环双位测试序列为(00,11,00,01,10,01)。

8.根据权利要求7所述的内存测试方法，其特征在于，所述内存芯片位宽为8位，所述基 础模型序列包括第一基础模型序列01-23-45-67、第二基础模型序列02-13-46-57和第三基 础模型序列04-15-26-37。

9.根据权利要求8所述的内存测试方法，其特征在于，所述将所述最简闭环双位测试序 列导入至所述基础模型序列中，得到所述内存测试模型序列包括：

将最简闭环双位测试序列(00,11,00,01,10,01)导入至第一基础模型序列01-23-45- 67中，得到第一内存测试模型序列：

将最简闭环双位测试序列(00,11,00,01,10,01)导入至第二基础模型序列02-13-46- 57中，得到第二内存测试模型序列：

将最简闭环双位测试序列(00,11,00,01,10,01)导入至第三基础模型序列04-15-26- 37中，得到第三内存测试模型序列：

合并所述第一内存测试模型序列、第二内存测试模型序列和第三内存测试模型序列， 精简合并后的序列，得到所述内存测试模型序列：