[发明专利]一种最佳数据块大小确定方法及装置在审
申请号: | 201510810781.5 | 申请日: | 2015-11-20 |
公开(公告)号: | CN105448351A | 公开(公告)日: | 2016-03-30 |
发明(设计)人: | 王钦 | 申请(专利权)人: | 深圳市迪菲特科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 深圳华奇信诺专利代理事务所(普通合伙) 44328 | 代理人: | 曲卫涛 |
地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 最佳 数据 大小 确定 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及领域存储性能测试技术领域,特别是涉及一种最佳数据块大小确定方法及装置。
背景技术
随着计算机的和信息网络的发展,分布式文件系统尤其是大规模的分布式文件系统得到了广泛的应用。为了更好的了解不同的文件系统的优势和不足,可以通过测试来得到衡量其性能的指标。
现有技术中常用的测试工具为IOmeter,其能够有效的测得文件系统的存储性能。
然而,目前测试工具在对存储性能进行测试时,都需要人为设置固定的测试参数,如果要测试某项性能的最优值,只能设置多次进行测试,然后人工分析测试结果。虽然有些测试软件能够进行自动化测试,支持设置多次测试的多个参数,但无法在测试过程中灵活调整测试参数来获得最优测试结果。
例如,在使用IOmeter对存储性能进行测试时,测试过程中,需要设置大量的数据块大小进行全覆盖的存储性能测试,使用该方法测试时,由于无法在测试过程中设置最佳数据块大小将导致存储测试性能准确性较低,测试效率不高的问题,无法正确反映存储设备的性能。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种最佳数据块大小确定方法及装置,用于解决现有技术中无法对数据块大小进行调节得到最佳数据块大小带来的测试效率低就测试结果不佳等问题。
为解决上述技术问题,本发明提供一种最佳数据块大小确定方法,包括:
向存储设备发送第i数据块,i为正整数且初始值为1,且第1数据块的大小为第一预设值;
在所述存储设备对接收到的第i数据块进行处理得到待存储的存储数据块后,捕获所述存储数据块;
若所述第i数据块的大小与所述存储数据块的大小相同,则确定第i+1数据块的大小为第i数据块的大小与第二预设值之间的和,且令i=i+1,返回执行所述向所述存储设备发送第i数据块的步骤;
若所述第i数据块的大小与所述存储数据块的大小不同,则根据所述第i数据块的大小确定最佳数据块大小。
为解决上述技术问题,本发明还提供一种最佳数据块大小确定装置,包括:
发送模块,用于向存储设备发送第i数据块,i为正整数且初始值为1,且第1数据块的大小为第一预设值;
捕获模块,用于在所述存储设备对接收到的第i数据块进行处理得到待存储的存储数据块后,捕获所述存储数据块;
返回模块,用于若所述第i数据块的大小与所述存储数据块的大小相同,则确定第i+1数据块的大小为第i数据块的大小与第二预设值之间的和,且令i=i+1,返回执行所述向所述存储设备发送第i数据块的步骤;
确定模块,用于若所述第i数据块的大小与所述存储数据块的大小不同,则根据所述第i数据块的大小确定最佳数据块大小。
本发明的有益效果是:区别于现有技术的情况,本发明中的最佳数据块大小确定装置向存储设备发送第i数据块,该i为正整数且初始值为1,且第1数据块的大小与第一预设值,在存储设备对接收到的第i数据块进行处理得到待存储的存储数据块之后,装置捕获该存储数据块,若该第i数据块的大小与存储数据块的大小相同,则确定第i+1数据块的大小为第i数据块的大小与第二预设值之间的和,且令i=i+1,返回执行向存储设备发送第i数据块的步骤,使得能够通过比较大小逐步提高发送的第i数据块的大小方式,让该第i数据块的大小逐渐接近最佳数据块大小,直至第i数据块的大小与存储数据块的大小时,根据该第i数据块的大小确定最佳数据块大小,使得在按照该最佳数据块大小向存储设备发送数据块进行存储性能测试时,能够有效的提高测试效率,得到更能准确反映存储设备的最优性能的测试结果。
附图说明
图1是本发明实施方式中最佳数据块大小的确定方法的流程图;
图2是本发明实施方式中最佳数据块大小的确定方法的示意图;
图3是本发明实施方式中最佳数据块大小的确定装置的示意图;
图4是本发明实施方式中最佳数据块大小的确定装置的示意图。
具体实施方式
请参阅图1,图1为本发明实施例中最佳数据块大小确定方法的实施例,包括:
步骤101:向存储设备发送第i数据块,i为正整数,且第1数据块的大小为第一预设值;
在本发明实施例中,最佳数据块大小确定装置(以下简称装置)能够对挂载的存储设备的最佳数据块大小进行测试,使得可以使用存储设备的最佳数据块大小对存储设备的存储性能进行测试,使得测试结果更加准确有效,且能够节约测试时间,提高测试效率。
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