[发明专利]验证方法有效

专利信息
申请号: 201510819254.0 申请日: 2015-11-23
公开(公告)号: CN106777431B 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 陈振兴;林俊鸿 申请(专利权)人: 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
主分类号: G06F30/17 分类号: G06F30/17;G06F119/18
代理公司: 上海宏威知识产权代理有限公司 31250 代理人: 袁辉
地址: 201114 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 验证 方法
【说明书】:

一种验证方法包含提供第一实体像素及第二实体像素,第一实体像素与第二实体像素之间存在余隙,由第一实体像素起始,依据预定余隙设计值朝向第二实体像素新增第三实体像素,藉由判断第三实体像素与第二实体像素是否部份重叠,以验证余隙的大小是否在余隙设计的安全范围内。

技术领域

本揭示文件有关于一种验证方法,特别是关于利用CAD绘图软件的干涉检查来验证两实体像素间的余隙是否在余隙设计的安全范围内的方法。

背景技术

依据计算机软件的设计图,经过制造加工等程序后所输出的机构,实际上会与在计算机软件中的设计图有所差异,因此,为了弥补机构在制造过程中所产生的误差,用户通常在设计组件的图形时,会预留误差的范围,另一方面,机构设计时除了考虑公差,也必须考虑到该机构的使用的环境,为了使机构能够在不同的使用环境下正常运作,使用者也必须预留机构的间距。

上述所说的公差以及依据使用环境所预留的间距在计算机绘图中是以余隙的方式呈现。然而,以目前现行CAD绘图软件来说,用户仅能利用CAD绘图软件所内建的余隙检查功能来对机构的两实体像素之间的最小余隙进行确认,此一功能无法针对两实体像素之间具有多处不同余隙的设计进行确认。

发明内容

为了解决上述的问题,本揭示文件揭露了一种在计算机绘图软件中,利用干涉检查进行余隙设计验证的方法。此验证方法包含提供第一实体像素及第二实体像素,第一实体像素与第二实体像素之间存在余隙,由第一实体像素起始,依据预定余隙设计值朝向该第二实体像素新增第三实体像素,并且藉由执行干涉检查来判断第三实体像素与第二实体像素是否部份重叠,以验证余隙的大小是否在余隙设计的安全范围内。

附图说明

图1绘示本揭示文件的一实施例的机构示意图。

图2绘示本揭示文件的一实施例的验证方法的流程图。

图3A~图3F绘示本揭示文件的一实施例的余隙验证的示意图。

组件标号说明:

为了让该领域具有通常知识的人更容易了解本揭示文件的上述的特征、优点及实施例,所附符号说明如下:

P1 第一实体像素

P2: 第二实体像素

200: 验证方法

202~212: 步骤

D1~D3: 余隙

R1~R3: 余隙设计范围像素

A1: 第一局部像素

A2: 第二局部像素

TP1~TP6: 新增实体像素

S1~S9: 侧边

SD1~SD3: 预定余隙设计值

具体实施方式

图1绘示本揭示文件的一实施例的机构示意图。在计算机绘图环境中,用户设计机构通常需要多个实体像素,如图1示意性地绘出第一实体像素P1以及第二实体像素P2,但实际的计算机绘图环境中可能包含更多的实体像素,于图中未示。

第一实体像素P1以及第二实体像素P2可以是具有不同设计形状的实体像素,其中两实体像素之间无干涉作用,也就是第一实体像素P1以及第二实体像素P2之间存在余隙,例如余隙D1及D2,如图1所示。

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