[发明专利]发光二极管及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201510820041.X 申请日: 2015-11-24
公开(公告)号: CN105489726B 公开(公告)日: 2017-10-24
发明(设计)人: 张洁;朱学亮;杜成孝;刘建明;徐宸科 申请(专利权)人: 厦门市三安光电科技有限公司
主分类号: H01L33/32 分类号: H01L33/32;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 361009 福建省厦*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 发光二极管 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种用于垂直芯片的LED外延结构,包括:

衬底,具有相对的上、下表面,所述上表面的部分区域被氮化;

n型氮化物层,形成于所述衬底的上表面,具有氮极性的晶体和镓极性的晶体,其中所述氮极性的晶体生长于所述衬底被氮化的区域上方,且所述氮极性和镓极性区域的表面呈现高度差;

n型恢复层,形成于n型氮化物层上,其上表面为相连的镓极性表面;

有源层,形成于所述n型恢复层上;

p型层,形成于所述有源层上。

2.根据权利要求1所述的LED外延结构,其特征在于:所述n型氮化物层的氮极性的晶体和镓极性的晶体交替排列。

3.根据权利要求1所述的LED外延结构,其特征在于:所述n型恢复层的厚度为0.3~1μm,掺杂浓度为2e17cm-3~5e18cm-3

4.一种垂直LED芯片,自下而上依次包括:导电基板、p型氮化物层、有源层、n型恢复层、n型氮化物层和n电极,其特征在于:所述n型氮化物层具有氮极性的晶体和镓极性的晶体,且所述氮极性和镓极性区域的表面呈现高度差,所述n型恢复层邻近所述n型氮化物层的一侧表面具有与所述n型氮化物层一致的混合极性,远离所述n型氮化物层接触的一侧表面为相连的镓极性表面。

5.根据权利要求4所述的一种垂直LED芯片,其特征在于:所述n型氮化物层中,氮极性的晶体和镓极性的晶体交替排列。

6.根据权利要求4所述的一种垂直LED芯片,其特征在于:所述n型氮化物层的上表面至少有一半为镓极性表面。

7.根据权利要求4所述的一种垂直LED芯片,其特征在于:所述n型恢复层的厚度为0.3~1μm,掺杂浓度为2e17cm-3~5e18cm-3

8.一种垂直LED芯片的制作方法,包括步骤:

1)提供一具有相对的上、下表面的衬底,氮化所述上表面的部分区域;

2)在所述衬底的上表面上生长n型氮化物层,其具有氮极性的晶体和镓极性的晶体,其中所述氮极性的晶体生长于所述衬底的被氮化区域上方,且所述氮极性和镓极性区域的表面呈现高度差;

3)在所述n型氮化物层上生长n型恢复层,其上表面为相连的镓极性表面;

4)在所述n型恢复层依次生长有源层和p型氮化物层,构成LED外延结构;

5)提供一导电基板,将其与前述LED外延结构之p型氮化物层一侧表面连结;

6)移除所述LED外延结构的衬底,露出n型氮化物层的表面,在其上制作n电极。

9.根据权利要求8所述的垂直LED芯片的制作方法,其特征在于:所述步骤3)中,通过控制生长的温度、压力和生长速率,提高镓极性区域侧向外延能力,在完成时形成镓极性表面相连。

10.根据权利要求9所述的垂直LED芯片的制作方法,其特征在于:所述步骤3)中,生长温度为1100~1150℃、压力为100~150torr,生长速率为1μm/h以下。

11.根据权利要求8所述的垂直LED芯片的制作方法,其特征在于:所述步骤6)中,移除衬底露出外延结构的表面,采用湿法蚀刻该露出的表面,在n型氮化物层的表面形成具有高度差的表面。

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