[发明专利]孔成像系统有效

专利信息
申请号: 201510822243.8 申请日: 2015-11-24
公开(公告)号: CN105717628B 公开(公告)日: 2018-06-26
发明(设计)人: J.L.谢弗 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G02B23/26 分类号: G02B23/26;G01B11/12;G01N21/954
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邸万奎
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光检测器 光检测器装置 成像系统 孔表面 横断 轴向 配置 成像阵列 成像装置 接收图像 图像光 图像区 种孔 传输
【权利要求书】:

1.一种孔成像系统,包含:

光检测器配置;以及

第一孔表面成像装置,被配置为把源于孔表面上的第一图像区的图像光传输给光检测器配置,

其中,光检测器配置包含在朝向与孔的轴向横断的方向的平面中弯曲的第一弯曲光检测器装置;以及

第一弯曲光检测器装置至少包含沿与所述轴向横断的方向接收图像光的第一成像阵列。

2.根据权利要求1所述的孔成像系统,其中,按近似圆形的曲线弯曲第一弯曲光检测器装置。

3.根据权利要求1所述的孔成像系统,其中:

第一孔表面成像装置包含:

第一反射器元件,以及

第二反射器元件,其沿第一反射器元件和光检测器配置之间的光路径定位;以及

第一反射器元件被设置为近似沿径向接收源于孔表面上的第一图像区的图像光,并且近似沿轴向将其输出给第二反射器元件;以及

第二反射器元件被设置为从第一反射器元件接收图像光,并且沿径向将图像光传输给光检测器配置。

4.根据权利要求3所述的孔成像系统,其中,第一反射器元件和第二反射器元件为环360方位角度反射的全景反射器元件。

5.根据权利要求1所述的孔成像系统,其中,光检测器配置被设置为沿与轴向横断的方向检测360方位角度范围的光。

6.根据权利要求1所述的孔成像系统,其中,光检测器配置包含多个弯曲光检测器装置。

7.根据权利要求6所述的孔成像系统,其中:

第一弯曲光检测器装置和第二弯曲光检测器装置沿轴向相互位移;以及

沿孔的轴向对准第一弯曲光检测器装置的第一成像阵列的至少第一部分,以覆盖不由包括在第二弯曲光检测器装置的成像阵列中的光检测器元件所覆盖的方位角成像间隙,或者与不由包括在第二弯曲光检测器装置的成像阵列中的光检测器元件所覆盖的方位角成像间隙对准。

8.根据权利要求1所述的孔成像系统,其中,第一弯曲光检测器装置被定位在形成螺旋管或者沿360度以上的方位角弧度段覆盖其本身一部分的柔性基片上。

9.根据权利要求1所述的孔成像系统,其中,第一弯曲光检测器装置被定位在沿径向面向内的凹表面上。

10.根据权利要求1所述的孔成像系统,其中,第一弯曲光检测器装置被定位在沿径向面向外的凸表面上。

11.根据权利要求1所述的孔成像系统,其中,第一孔表面成像装置还包含透镜装置,其被配置为沿第一孔表面成像装置的光路径聚焦源于孔表面的光。

12.根据权利要求1所述的孔成像系统,还包括第二光检测器配置和第二孔表面成像装置。

13.根据权利要求12所述的孔成像系统,其中,第二孔表面成像装置被配置为把源于孔表面上的第二图像区的图像光传输给第二光检测器配置。

14.根据权利要求12所述的孔成像系统,其中,第二孔表面成像装置被配置为:沿具有相对第一图像区的、不同于第一孔表面成像装置的具有不同角度的光路径,把源于第一图像区的图像光传输给第二光检测器配置。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社三丰,未经株式会社三丰许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510822243.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top