[发明专利]一种红外扫描成像及辐射校正源集成控制装置有效
申请号: | 201510823260.3 | 申请日: | 2015-11-23 |
公开(公告)号: | CN105487436B | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
发明(设计)人: | 殷国平;沈玉秀 | 申请(专利权)人: | 天津津航技术物理研究所 |
主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042;G01J5/00 |
代理公司: | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人: | 刘东升 |
地址: | 300308 天津市*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 红外扫描成像 集成控制装置 扫描控制模块 扫描控制 主控模块 校正源 控制技术领域 温度控制模块 电路板 模块化电路 模块化设计 辐射源 红外成像 集成芯片 接口模块 温控电路 装置实现 辐射 定标源 集成化 专用的 算法 温控 电源 简易 | ||
1.一种红外扫描成像及辐射校正源集成控制装置,其特征在于,包括:主控模块、以及与其连接的扫描控制模块、温度控制模块、电源及接口模块;
所述主控模块由单片机或ARM组成,用于接收并解算命令,并根据命令对扫描控制模块和温度控制模块进行相应控制;
所述扫描控制模块由DAC组成,用于提供电机及驱动器所需的电压,首先根据成像器的成像视场确定扫描角度,再将扫描角度换算成电机及驱动器电压,以驱动控制电机及驱动器;
所述温度控制模块包括连接主控模块的温度点控制芯片、连接温度点控制芯片的温控芯片、以及连接温控芯片的功率驱动芯片;温控芯片包括ADN8831,功率驱动芯片配合温控芯片使用,实现对TEC的加热、制冷功率驱动,温度点控制芯片包括DAC,通过主控模块设置DAC的电压,将TEC温度控制在该电压对应的温度点上;
所述电源及接口模块包括电源模块和接口模块,电源模块为主控模块、温度控制模块、扫描控制模块供电,接口模块连通主控模块和外界,实现串口通讯信号、同步信号的格式转换。
2.如权利要求1所述的红外扫描成像及辐射校正源集成控制装置,其特征在于,所述扫描控制模块工作流程为:首先主控模块接收并解算扫描角度、扫描周期、有效帧角度、TEC位置角度信息,再将扫描角度信息转换成DAC对应的数据,并根据扫描周期设定电压变换步长,然后根据有效帧角度信息及TEC位置信息确定帧同步信号和TEC位置同步信号,输出给成像电路,成像电路根据该帧同步信号采集有效图像数据,根据TEC位置同步信号采集定标图像数据。
3.如权利要求1或2所述的红外扫描成像及辐射校正源集成控制装置,其特征在于,所述温度控制模块工作流程为:首先主控模块接收并解算高、低温数据,将其换算成温度控制点对应的电压信号,再控制DAC输出该电压信号至温控芯片,温控系统启动,同时监控温控芯片中TMPGD信号,当高、低温控芯片的TMPGD信号均为高电平时,则表示温度控制稳定,输出温度稳定同步信号,成像电路采集到该同步信号即可采集定标图像数据。
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