[发明专利]一种叶片表面铝硅渗层厚度的检测方法

权利要求书

1.一种叶片表面铝硅渗层厚度的检测方法，其特征在于：所述的叶片表面铝硅渗层厚度的检测方法，进行渗层厚度测量的热电检测装置由冷端探头、热端探头、温控装置、电动势指示装置、调零装置和电源显示装置构成；通电后，热端探头内的电阻产生热，由温控装置保持热端探头的温度在340℃；冷、热端探头未接触零件时，热电势值应为“0”，如果有偏差，采用调零旋钮进行调整；将热端探头放置在零件被检部位，零件局部温度升高，此时在零件被检部位将有热电势产生，将冷端探头放置在零件的另一部位，与热端探头通过零件导通，则电动势指示装置能够测量到零件上的热电势值，并将其指示出来；热电势值的大小反映出渗层的厚度信息；

采用与被检零件相同的材料制作不同厚度的铝硅渗层试片，在显微镜下精确测量渗层的厚度值，然后采用热电检测装置依次进行测量，绘制热电势值与铝硅渗层厚度的对应关系曲线，建立坐标曲线；在对零件铝硅渗层测量时，可以通过测量的热电势值直接从坐标曲线上查出对应的实际铝硅渗层的厚度；

采用与被检零件相同的材料另外制作三片标准试片，试片一为无渗层的裸面，试片二上制备允许最小厚度的铝硅渗层，试片三上制备允许的最大厚度铝硅渗层；此三片标准试片是用于确定叶片表面渗层厚度合格与否的依据。

2.按照权利要求1所述的叶片表面铝硅渗层厚度的检测方法，其特征在于：采用热电法检测叶片表面铝硅渗层厚度的实施方式如下：

①检验前准备：将被检叶片去掉积碳、氧化皮、灰尘、滑油和水分这些杂物；保证热电检测装置、渗层标准试片和被检叶片的温度与周围环境温度一致；仪器校准的标准试片要单独存放，保证不使渗铝硅层损伤并保证叶片清洁；仪器使用过程中触头的热电极应插在其插座中，不要直接接触桌面，热电极的温度可达到340℃，避免烫伤；开启电源，接通仪器，将仪器预热10分钟，预热时，热电检测装置的热端探头应插在其插座中；

②零点调整：检测前，调整仪器零点旋钮，使电动势指示装置显示数据为零；

③仪器校准：热电检测对比试样应为三片标准试片，试片一无渗层，试片二带有允许的最小厚度渗层，试片三带有允许的最大厚度渗层；将热电检测装置热端探头和冷端探头分别放在三片试片的被检测区，观察并记录热电检测装置表盘的热电势值，建立线性关系，作为铝硅渗层厚度合格与否的判定依据；

④检验：在被检叶片叶身表面检查，间距为5mm，检查时热端探头与被检表面尽量保证垂直，当热电势读数大于等于试片二的读数时，说明叶片表面的渗层过薄或无渗层，不合格；当热电读数小于试片二的读数而大于试片三的读数时，说明渗层在合格区内，合格；当热电读数小于试片三的读数时，说明渗层厚度超标，零件不合格；

注意事项：连续工作每隔15～20分钟检查一下上述步骤的正确性，如果数据出现漂移，此次调试至上次调试后检测的叶片应重新检查；

⑤记录：检验结束后，将检验结果记录在专用的记录本中；

⑥检验后处理：关闭仪器及电源，收好仪器及对比试样。