[发明专利]一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪在审
申请号: | 201510826674.1 | 申请日: | 2015-11-25 |
公开(公告)号: | CN105403142A | 公开(公告)日: | 2016-03-16 |
发明(设计)人: | 张代林;朱鸿;左苏;刘阳;陈幼平;张冈;张兴;张湧正 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01B7/34 | 分类号: | G01B7/34 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 430074 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 磁栅尺 便携 平整 测量仪 | ||
1.一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪,包括机械探针(7),步进电机(1),磁栅尺、底座(6),其特征是在所述底座(6)的两端设有支架(5),支架(5)的一端安装有步进电机(1),在支架(5)的中间设置丝杠导轨(2),步进电机(1)与丝杠导轨(2)连接,在丝杠导轨(2)上设置滑块(3);所述磁栅尺为开放式,包括磁条(8)、磁头(9);所述磁栅尺安装在所述滑块(3)的外表面,在所述滑块(3)上设置固定架(4),所述探针(7)直接与磁条(8)固定在固定架(4)上,所述磁头(9)设置在滑块(3)上,所述磁头(9)与探针(7)相嵌合。
2.根据权利要求1所述的一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪,其特征是所述磁条(8)的输出端与微型PC机连接,所述探针(7)的位移转化为所述磁条(8)的位移,所述磁条(8)位移转化为模拟量输出至微型PC。
3.根据权利要求1所述的一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪,其特征是所述探针(7)包括探针内芯(12)、探针外芯(13),在探针内芯(12)的下部设有弹簧(14)。
4.根据权利要求2所述的一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪,其特征是在所述探针内芯(12)的上部安装支撑架(11),支撑架(11)为倒“L”型,在“L”型的竖直边安装磁条(8)。
5.根据权利要求3所述的一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪,其特征是在所述磁条(8)与所述探针内芯(12)相平行。
6.根据权利要求2所述的一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪,其特征是所述探针(7)在固定架(4)上的固定端利用弹簧(14)保持探针(7)始终与待测平面(10)保持接触。
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